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A Test Chip for the Development of Porous Silicon Light Emitting Diodes 1-gen-1996 L., Pavesi; R., Guardini; Bellutti, Pierluigi; Soncini, Giovanni; O., Bisi
Integrated Optical Sensors in CCD/CMOS Technology 1-gen-1996 Bellutti, Pierluigi; Gottardi, Massimo; A., Sartori; Dalla Betta, Gian Franco; Soncini, Giovanni
MOS C-t characteristics and gate oxide quality versus bulk iron contamination in epitaxial wafers 1-gen-1997 Bellutti, Pierluigi; Collini, Amos; Zorzi, Nicola; G., Vaccari; D., Crippa
Gate Oxide Quality Improvement Nearby Bird`s Beak Region 1-gen-1997 Bellutti, Pierluigi; Collini, Amos; Ferrario, Lorenza; Zorzi, Nicola; Zen, Mario
Porous Silicon N/P Light Emitting Diode 1-gen-1997 L., Pavesi; R., Guardini; Bellutti, Pierluigi
On the Route towards Efficient Light Emitting Diodes based on Porous Silicon 1-gen-1997 M., Cazzanelli; L., Pavesi; O., Bisi; P., Dubos; Bellutti, Pierluigi; Soncini, Giovanni; G., Faglia; G., Sberveglieri
The Search for Cathode and Anode Traps in High-Voltage Stressed Silicon Oxides 1-gen-1998 L., Chen; C., Kang; O., Oralkan; D., Dumin; G., Brown; Bellutti, Pierluigi
Design and optimisation of an npn silicon bipolar phototransistor for optical position encoders 1-gen-1998 Dalla Betta, Gian Franco; Giorgio Umberto, Pignatel; G., Verzellesi; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Ferrario, Lorenza; Zorzi, Nicola; Maglione, Alfredo
Impact of High-Temperature Dry Local Oxidation on Gate Oxide Quality 1-gen-1998 Bellutti, Pierluigi; Zorzi, Nicola
Minority Carrier Diffusion Length Changes in Si Substrate due to a High Temperature Annealing 1-gen-1998 Bellutti, Pierluigi; M., Calderara; M., Porrini; M., Cornara; M., Olmo
Visible luminescence from a Si superlattice embedded in high quality Si/SiO2 optical microcavities 1-gen-1999 Pucker, Georg; Mulloni, Viviana; L., Pavesi; Bellutti, Pierluigi; Lui, Alberto; C., Spinella
Development and characterisation of electroluminescent diodes based on porous Si Integration with the control electronics in CMOS technology 1-gen-1999 L., Pavesi; Z., Gaburro; Mulloni, Viviana; C., Mazzoleni; R., Chierchia; Bellutti, Pierluigi; Lui, Alberto; F., Fuso; M., Labardi; L., Pardi; F., Sbrana; M., Allegrini; S., Trusso; C., Vasi; O., Bisi; S., Ossicini; E., Degoli; A., Diligenti; A., Nannini; G., Pennelli; F., Pieri
On the better quality of wet-grown gate oxides 1-gen-1999 Bellutti, Pierluigi; Zorzi, Nicola
Light Emission from MOS Tunnel Diodes 1-gen-1999 R., Versari; A., Pieracci; M., Manfredi; Bellutti, Pierluigi
Gate Oxide Reliability Improvement related to Dry Local Oxidation of Silicon 1-gen-1999 Bellutti, Pierluigi; Zorzi, Nicola; G., Verzellesi
Light emitting porous silicon diode based on a silicon/porous silicon heterojuction 1-gen-1999 L., Pavesi; R., Chierchia; Bellutti, Pierluigi; Lui, Alberto; F., Fuso; M., Labardi; L., Pardi; F., Sbrana; M., Allegrini; S., Trusso; C., Vasi; P. J., Ventura; L. C., Costa; M. C., Carmo; O., Bisi
The Effect of Stress Polarity on Positive Charging in Thin Gate Oxides 1-gen-1999 Bellutti, Pierluigi; L., Eccel; Zorzi, Nicola
An all-implanted p-channel Si JFET fully compatible with CMOS technology 1-gen-1999 Dalla Betta, Gian Franco; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Ferrario, Lorenza; Soncini, Giovanni; Zorzi, Nicola
The effect of stress polarity on positive charging in thin gate oxide 1-gen-2000 Bellutti, Pierluigi; L., Eccel; Zorzi, Nicola
Fowler Nordheim induced light emission from MOS diodes 1-gen-2000 Bellutti, Pierluigi; Dalla Betta, Gian Franco; Zorzi, Nicola; R., Versari; A., Pieracci; B., Riccò; M., Manfredi; Soncini, Giovanni
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