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Characterization of deep levels in silicon devices by means of D.L.T.S. technique
1988-01-01 Boscardin, Maurizio; Zen, Mario
Seeman-Bohlin x-ray diffraction study of Al-1%Si thin films used in ULSI devices
1992-01-01 Dapor, Maurizio; Cicolini, Guido; Giacomozzi, Flavio; Boscardin, Maurizio; G., Queirolo
Project and development of a CAM tool for managing/planning the IRST integrated circuit fabrication laboratory activity
1993-01-01 Boscardin, Maurizio; Ferrario, Lorenza; Zen, Mario
Thin film technology in the development of IRST-CCD/CMOS VLSI fabrication process
1993-01-01 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Pedrotti, Severino; Zen, Mario; Soncini, Giovanni
Uso dell'RF cleaning per la riduzione della resistenza dei contatti intermetal in strutture a doppio livello di metallizzazione
1994-01-01 Giacomozzi, Flavio; Boscardin, Maurizio
Intrinsic Gettering in a CCD/CMOS Process
1994-01-01 Bellutti, Pierluigi; R., Bovo; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
Bird`s Beak Reduction by Dry LOCOS Technique
1994-01-01 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Lui, Alberto; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
Gettering intrinseco in silicio semiconduttore
1994-01-01 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zorzi, Nicola; R., Bovo; P., Rossetto; Soncini, Giovanni
Proposal for a Simplified CMOS VLSI Fabrication Sequence
1995-01-01 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
N-Channel JFET for On-Chip Read-Out Electronics of Radiation Detectors
1995-01-01 Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; Boscardin, Maurizio; S., Amon
A Low Leakage Process for Silicon Radiation Detectors
1995-01-01 Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel
Smart Vision Chips in CCD and CCD/CMOS Technologies
1995-01-01 Soncini, Giovanni; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Gottardi, Massimo; Zen, Mario
On the choice of the optimum silicon substrate for CCD/CMOS technology
1995-01-01 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
DW-LOCOS: a convenient VLSI isolation technique
1995-01-01 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
On the improving of the gate oxide reliability
1996-01-01 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
Interstitial oxygen concentration role in the DW-Locos CMOS technology
1996-01-01 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; D., Vrtacnik; M., Calderara; Soncini, Giovanni
Design of an N-Channel Jfet on High-Resistitivity Silicon for Radiation-Dectors On-Chip Front-End Electronics
1996-01-01 Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; S., Amon; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni
A Test Chip for the Development of Pin-Type Silicon Radiation Detectors
1996-01-01 Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; A., Fazzi; Soncini, Giovanni
Rivelatori di radiazione su silicio ad alta resistività
1997-01-01 Giorgio Umberto, Pignatel; Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio
Analysis of the Breakdown Behaviour of Stacked Dielectric Capacitors for AC-coupled Silicon Microstrip Detectors
1997-01-01 Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; Dalla Betta, Gian Franco; Ferrario, Lorenza; Giorgio Umberto, Pignatel; Zen, Mario
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Characterization of deep levels in silicon devices by means of D.L.T.S. technique | 1-gen-1988 | Boscardin, Maurizio; Zen, Mario | |
Seeman-Bohlin x-ray diffraction study of Al-1%Si thin films used in ULSI devices | 1-gen-1992 | Dapor, Maurizio; Cicolini, Guido; Giacomozzi, Flavio; Boscardin, Maurizio; G., Queirolo | |
Project and development of a CAM tool for managing/planning the IRST integrated circuit fabrication laboratory activity | 1-gen-1993 | Boscardin, Maurizio; Ferrario, Lorenza; Zen, Mario | |
Thin film technology in the development of IRST-CCD/CMOS VLSI fabrication process | 1-gen-1993 | Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Pedrotti, Severino; Zen, Mario; Soncini, Giovanni | |
Uso dell'RF cleaning per la riduzione della resistenza dei contatti intermetal in strutture a doppio livello di metallizzazione | 1-gen-1994 | Giacomozzi, Flavio; Boscardin, Maurizio | |
Intrinsic Gettering in a CCD/CMOS Process | 1-gen-1994 | Bellutti, Pierluigi; R., Bovo; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola | |
Bird`s Beak Reduction by Dry LOCOS Technique | 1-gen-1994 | Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Lui, Alberto; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola | |
Gettering intrinseco in silicio semiconduttore | 1-gen-1994 | Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zorzi, Nicola; R., Bovo; P., Rossetto; Soncini, Giovanni | |
Proposal for a Simplified CMOS VLSI Fabrication Sequence | 1-gen-1995 | Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola | |
N-Channel JFET for On-Chip Read-Out Electronics of Radiation Detectors | 1-gen-1995 | Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; Boscardin, Maurizio; S., Amon | |
A Low Leakage Process for Silicon Radiation Detectors | 1-gen-1995 | Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel | |
Smart Vision Chips in CCD and CCD/CMOS Technologies | 1-gen-1995 | Soncini, Giovanni; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Gottardi, Massimo; Zen, Mario | |
On the choice of the optimum silicon substrate for CCD/CMOS technology | 1-gen-1995 | Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola | |
DW-LOCOS: a convenient VLSI isolation technique | 1-gen-1995 | Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola | |
On the improving of the gate oxide reliability | 1-gen-1996 | Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zen, Mario; Zorzi, Nicola | |
Interstitial oxygen concentration role in the DW-Locos CMOS technology | 1-gen-1996 | Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; D., Vrtacnik; M., Calderara; Soncini, Giovanni | |
Design of an N-Channel Jfet on High-Resistitivity Silicon for Radiation-Dectors On-Chip Front-End Electronics | 1-gen-1996 | Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; S., Amon; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni | |
A Test Chip for the Development of Pin-Type Silicon Radiation Detectors | 1-gen-1996 | Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; A., Fazzi; Soncini, Giovanni | |
Rivelatori di radiazione su silicio ad alta resistività | 1-gen-1997 | Giorgio Umberto, Pignatel; Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio | |
Analysis of the Breakdown Behaviour of Stacked Dielectric Capacitors for AC-coupled Silicon Microstrip Detectors | 1-gen-1997 | Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; Dalla Betta, Gian Franco; Ferrario, Lorenza; Giorgio Umberto, Pignatel; Zen, Mario |
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