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Characterization of deep levels in silicon devices by means of D.L.T.S. technique 1-gen-1988 Boscardin, Maurizio; Zen, Mario
Seeman-Bohlin x-ray diffraction study of Al-1%Si thin films used in ULSI devices 1-gen-1992 Dapor, Maurizio; Cicolini, Guido; Giacomozzi, Flavio; Boscardin, Maurizio; G., Queirolo
Project and development of a CAM tool for managing/planning the IRST integrated circuit fabrication laboratory activity 1-gen-1993 Boscardin, Maurizio; Ferrario, Lorenza; Zen, Mario
Thin film technology in the development of IRST-CCD/CMOS VLSI fabrication process 1-gen-1993 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Pedrotti, Severino; Zen, Mario; Soncini, Giovanni
Uso dell'RF cleaning per la riduzione della resistenza dei contatti intermetal in strutture a doppio livello di metallizzazione 1-gen-1994 Giacomozzi, Flavio; Boscardin, Maurizio
Intrinsic Gettering in a CCD/CMOS Process 1-gen-1994 Bellutti, Pierluigi; R., Bovo; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
Bird`s Beak Reduction by Dry LOCOS Technique 1-gen-1994 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Lui, Alberto; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
Gettering intrinseco in silicio semiconduttore 1-gen-1994 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zorzi, Nicola; R., Bovo; P., Rossetto; Soncini, Giovanni
Smart Vision Chips in CCD and CCD/CMOS Technologies 1-gen-1995 Soncini, Giovanni; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Gottardi, Massimo; Zen, Mario
A Low Leakage Process for Silicon Radiation Detectors 1-gen-1995 Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel
Proposal for a Simplified CMOS VLSI Fabrication Sequence 1-gen-1995 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Giacomozzi, Flavio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
N-Channel JFET for On-Chip Read-Out Electronics of Radiation Detectors 1-gen-1995 Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; Boscardin, Maurizio; S., Amon
On the choice of the optimum silicon substrate for CCD/CMOS technology 1-gen-1995 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
DW-LOCOS: a convenient VLSI isolation technique 1-gen-1995 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
Design of an N-Channel Jfet on High-Resistitivity Silicon for Radiation-Dectors On-Chip Front-End Electronics 1-gen-1996 Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; S., Amon; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni
Interstitial oxygen concentration role in the DW-Locos CMOS technology 1-gen-1996 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zen, Mario; Zorzi, Nicola; D., Vrtacnik; M., Calderara; Soncini, Giovanni
On the improving of the gate oxide reliability 1-gen-1996 Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Zen, Mario; Zorzi, Nicola
A Test Chip for the Development of Pin-Type Silicon Radiation Detectors 1-gen-1996 Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel; A., Fazzi; Soncini, Giovanni
Rivelatori di radiazione su silicio ad alta resistività 1-gen-1997 Giorgio Umberto, Pignatel; Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio
Analysis of the Breakdown Behaviour of Stacked Dielectric Capacitors for AC-coupled Silicon Microstrip Detectors 1-gen-1997 Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; Dalla Betta, Gian Franco; Ferrario, Lorenza; Giorgio Umberto, Pignatel; Zen, Mario
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