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Preferential effects in electron irradiated silicon dioxide 1-gen-1991 Calliari, Lucia
Titanium nitride coatings obtained using a new apparatus for ion beam assisted deposition 1-gen-1991 M., Bonelli; Calliari, Lucia; M., Elena; M. A., Ghabashy; L. A., Guzman; A., Miotello; P. M., Ossi
Analisi della forma di riga Auger in transizioni del tipo core-valenza-valenza (CVV): la transizione L2,3VV del silicio 1-gen-1991 Calliari, Lucia
Quenching the surface electronic structure of P-containing III-V semiconductors via ordered (1x1) Sb overlayers: a P L2,3VV Auger line-shape analysis 1-gen-1992 M., Sancrotti; L., Duò; Calliari, Lucia; F., Marchetti; R., Cosso; P., Weightman; F., Manghi
Electron irradiation of silicon dioxide: a non-destructive measurement of the in-depth induced compositional changes 1-gen-1992 Calliari, Lucia; F., Marchetti
Surface local density of states of InP(110) via P L2,3VV Auger line-shape: the role of an ordered (1x1) Sb overlayer 1-gen-1992 Calliari, Lucia; F., Marchetti; M., Sancrotti; L., Duò; R., Cosso; P., Weightman; F., Manghi
Structure and optical properties of TiN films prepared by dc sputtering and by ion beam assisted deposition 1-gen-1992 M., Bonelli; L. A., Guzman; A., Miotello; Calliari, Lucia; M., Elena; P. M., Ossi
Anion-specific surface valence band-states in heteropolar semiconductors: the case of GaP(110) and InP(110) 1-gen-1992 M., Sancrotti; L., Duò; Calliari, Lucia; F., Manghi; R., Cosso; P., Weightman
Overlayer-induced Auger line-shape changes: the case of the P L2,3VV transition at the InP(110)/Sb interface 1-gen-1992 Calliari, Lucia; M., Sancrotti; L., Duò; R., Cosso; P., Weightman; F., Manghi
Auger depth-profiling of silicon dioxide on silicon: a Factor Analysis study 1-gen-1993 M., Sarkar; Calliari, Lucia; Gonzo, Lorenzo; F., Marchetti
Electron bombardement effects on light emitting porous Silicon 1-gen-1993 Calliari, Lucia; M., Anderle; M., Ceschini; L., Pavesi; G., Mariotto; O., Bisi
Chemical and compositional changes induced by N+ implantation in amorphous SiC films 1-gen-1993 Bensaada Laidani, Nadhira; M., Bonelli; R., Bertoncello; A., Glisenti; Calliari, Lucia; R., Capelletti; P., Ossi; A., Miotello; M., Elena; L., Guzman
Composition changes in Ar+-implanted SiC: an attempt to distinguish ballistic and chemical effects 1-gen-1993 A., Miotello; Calliari, Lucia; R., Kelly; Bensaada Laidani, Nadhira; M., Bonelli; L., Guzman
Partial screening in Ca silicides measured by Ca2p electron-energy-loss spectroscopy 1-gen-1994 M., Sancrotti; Calliari, Lucia; F., Marchetti; F., Rapisarda; O., Bisi; A., Iandelli; G. L., Olcese; A., Palenzona
Synthesis and structural characterization of boron nitride thin films 1-gen-1994 M., Elena; L., Guzman; Calliari, Lucia; L., Moro; A., Steiner; A., Miotello; M., Bonelli; R., Capelletti; P. M., Ossi
Thermodynamic Effects on Ion-beam Mixing in SiC-Metal Systems 1-gen-1994 Bensaada Laidani, Nadhira; Calliari, Lucia; R., Kelly; A., Miotello
Spectroscopic investigation of electroluminescent porous silicon 1-gen-1994 L., Pavesi; M., Ceschini; G., Mariotto; E., Zanghellini; O., Bisi; M., Anderle; Calliari, Lucia; Fedrizzi, Michele; L., Fedrizzi
N+-implantation induced enhanced adhesion of amorphous-SiC films deposited on stainless steel 1-gen-1994 Bensaada Laidani, Nadhira; A., Miotello; L., Guzman; Calliari, Lucia
Auger Quantitative Analysis of Brass Via Target Factor Analysis 1-gen-1994 Calliari, Lucia; Gonzo, Lorenzo; Micheli, Victor; Paolo, Tiscione
Nitrogen-implantation induced enhanced adhesion of amorphous SiC films deposited on stainless steel and Cu 1-gen-1994 Bensaada Laidani, Nadhira; A., Miotello; L., Guzman; S., Tuccio; Calliari, Lucia
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