Electron irradiation of silicon dioxide: a non-destructive measurement of the in-depth induced compositional changes / L. Calliari; F. Marchetti. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 59(1992), pp. 79-85.
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Titolo: | Electron irradiation of silicon dioxide: a non-destructive measurement of the in-depth induced compositional changes |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1992 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11582/7008 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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