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    • Electron irradiation of silicon dioxide: a non-destructive measurement of the in-depth induced compositional changes / L. Calliari; F. Marchetti. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 59(1992), pp. 79-85.



    Titolo: Electron irradiation of silicon dioxide: a non-destructive measurement of the in-depth induced compositional changes
    Autori: 
    Calliari, Lucia
    mostra contributor esterni 
    Data di pubblicazione: 1992
    Rivista: 
    APPLIED SURFACE SCIENCE  
    Handle: http://hdl.handle.net/11582/7008
    Appare nelle tipologie:1.1 Articolo in rivista

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