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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Capacitive test-structures design methodology for the extraction of AIR-GAP and dielectric thickness of a MEMS process 1-gen-2006 M., Bellei; Margesin, Benno; R., Gaddi; A., Gnudi; Giacomozzi, Flavio
Cavity magnonics in strong coupling regime – from magnon-polariton hybrid states to perspectives for quantum sensing 1-gen-2022 Leo, A.; Barone, C.; Borghesi, M.; Capelli, S.; Carapella, G.; Caricato, A. P.; Carusotto, I.; Cian, A.; Di Gioacchino, D.; Serra, Enrico; Falferi, P.; Fasolo, L.; Faverzani, M.; Ferri, E.; Filatrella, G.; Gatti, C.; Giachero, A.; Giubertoni, D.; Granata, V.; Greco, A.; Guarcello, C.; Labranca, D.; Ligi, C.; Maccarrone, G.; Mantegazzini, F.; Margesin, B.; Maruccio, G.; Mauro, C.; Mezzena, R.; Monteduro, A. G.; Nucciotti, A.; Oberto, L.; Origo, L.; Pagano, S.; Pierro, V.; Piersanti, L.; Rajteri, M.; Rettaroli, A.; Rizzato, S.; Vinante, A.; Zannoni, M.
Characterization of MIM Capacitors for the Investigation of RF MEMS Switch Charging Effects 1-gen-2009 G., De Angelis; A., Lucibello; Giacomozzi, Flavio; Margesin, Benno; G., Bartolucci; R., Marcelli
Characterization of Silicon Anisotropic TMAH Etch for Bulk Micromachining 1-gen-1998 Sebastiano, Brida; Guarnieri, Vittorio; Giacomozzi, Flavio; Margesin, Benno; Zen, Mario
Charge trap investigation methodology on RF MEMS Switches 1-gen-2011 M., Barbato; V., Giliberto; A., Massenz; F., Di Maggio; M., Dispenza; P., Farinelli; Margesin, Benno; E., Carpentieri; U., D’Elia; I., Pomona; Tului, ; F., Casini; R., Sorrentino; E., Zanoni; G., Meneghesso
Charging Effects and related Equivalent Circuits for Ohmic Series and Shunt CapacitiveRF MEMS switches 1-gen-2008 G., Papaioannu; R., Marcelli; G., Bartolucci; S., Catoni; G., De Angelis; A., Lucibello; E., Proietti; Margesin, Benno; Giacomozzi, Flavio; F., Deborgies
Chemical Sensors based on ISFET Transducers 1-gen-1996 Lui, Alberto; Margesin, Benno; Zen, Mario; Soncini, Giovanni; G., Verzellesi
Circuital Modeling of Coplanar Series RF-MEMS Switches 1-gen-2004 R., Marcelli; G., Bartolucci; G., Minucci; Margesin, Benno; Giacomozzi, Flavio; F., Vitulli
Circuital Modelling of Shunt Capacitive RF MEMS Switches 1-gen-2008 G., Bartolucci; R., Marcelli; S., Catoni; Margesin, Benno; Giacomozzi, Flavio; A., Lucibello; Mulloni, Viviana; P., Farinelli
Compact 12x12 Switch Matrix integrating RF MEMS switches in LTCC hermetic packages 1-gen-2014 Franco, Diaferia; Francois, Deborgies; Sergio Di, Nardo; Beatrice, Espana; Paola, Farinelli; Andrea, Lucibello; Romolo, Marcelli; Margesin, Benno; Giacomozzi, Flavio; Larissa, Vietzorreck; Francesco, Vitulli
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 208
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 204
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 2
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 2
Autore
  • Giacomozzi, Flavio 115
  • Zen, Mario 48
  • Mulloni, Viviana 32
  • Faes, Alessandro 31
  • Guarnieri, Vittorio 31
  • Soncini, Giovanni 28
  • Iannacci, Jacopo 25
  • Colpo, Sabrina 24
  • Lorenzelli, Leandro 18
  • Bagolini, Alvise 16
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 5
  • 2010 - 2019 53
  • 2000 - 2009 123
  • 1990 - 1999 26
  • 1986 - 1989 1
Editore
  • IEEE 10
  • ieeexplore.ieee.org 5
  • World Scientific 4
  • World Scientific Publishing 3
  • EuMA 2
  • FBK - Publishing Services 2
  • FBK- Publishing services 2
  • SPIE 2
  • AEIT 1
  • AMA Service GmbH 1
Rivista
  • IEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPE... 1
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 1
Serie
  • EAS PUBLICATIONS SERIES 1
Keyword
  • RF MEMS 19
  • RF-MEMS 10
  • MEMS 8
  • RF-MEMS switch 6
  • DRIE 4
  • Capacitive switch 3
  • MEMS reliability 3
  • Mixed-domain simulation 3
  • packaging 3
  • Switch 3
Lingua
  • eng 183
  • ita 6
  • ger 1
  • rum 1
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Accesso al fulltext
  • no fulltext 195
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