IRIS Institutional Research Information System

RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 21 - 30 di 113 (tempo di esecuzione: 0.017 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Cronache di laboratorio/Monitoraggio ambientale: Caccia ai pollini allergenici 1-gen-2008 Bersani, Massimo; Antonella, Cristofori; Fabiana, Cristofolini; Dell'Anna, Rossana; Elena, Gottardini; Stella, Grando; Paolo, Lazzeri; Sara, Longhi
D-SIMS and ToF-SIMS quantitative depth profiles comparison on ultra thin oxynitrides 1-gen-2003 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Lazzeri, Paolo; B., Crivelli; F., Zanderigo
Deactivation of submelt laser annealed arsenic ultrashallow junctions in silicon during subsequent thermal treatment 1-gen-2010 Giubertoni, Damiano; Pepponi, Giancarlo; Mehmet Alper, Sahiner; Stephen P., Kelty; Gennaro, Salvatore; Bersani, Massimo; Max, Kah; Karen J., Kirkby; Roisin, Doherty; Majeed A., Foad; Meirer, Florian; C., Streli; Joseph C., Woicik; Piero, Pianetta
Deactivation of ultrashallow implants in preamorphized silicon after nonmelt laser annealing with multiple scans 1-gen-2006 J., Sharp; N., Cowern; R., Webb; K. J., Kirkby; Giubertoni, Damiano; Gennaro, Salvatore; Bersani, Massimo; M., Foad; F., Cristiano; P., Fazzini
Dependence of the transient enhancement diffusion of B in Si on B concentration and ion implanted dose 1-gen-2002 S., Solmi; G., Mannino; M., Servidori; Bersani, Massimo; L., Mancini; S., Milita; V., Privitera; Anderle, Mariano
Depth profile investigations of silicon nanocrystals formed in sapphire by ion implantation 1-gen-2007 Selcuk, Yerci; I., Yildiz; M., Kulacki; U., Serincan; Barozzi, Mario; Bersani, Massimo
Deuterium depth profile quantification in a ASDEX Upgrade divertor tile using secondary ion mass spectrometry 1-gen-2014 F., Ghezzi; R., Caniello; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; A., Hakola; M., Mayer; V., Rohde; M., Anderle; ASDEX Upgrade, Team
Development of nano-roughness under SIMS ion sputtering of germanium surfaces 1-gen-2013 Iacob, Erica; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Gennaro, Salvatore; Bersani, Massimo
Development of nanotopography during SIMS characterization of thin films of Ge1−xSnx alloy 1-gen-2015 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; C, ; Colaux, J. L.; Giubertoni, Damiano; Dell'Anna, Rossana; Iacob, Erica; Gwilliam, R. M.; Jeynes, C.; Bersani, Massimo
Differential Hall characterisation of ultrashallow doping in advanced Si-based materials 1-gen-2008 Nick, Bennett; N. E. B., Cowern; A. J., Smith; Max, Kah; R., Gwilliam; B. J., Sealy; T. C. Q., Noakes; P., Bailey; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
Risultati 21 - 30 di 113 (tempo di esecuzione: 0.017 secondi).
↑ Back to top
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • 1 Contributo su Rivista 113
  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 113
Autore
  • Giubertoni, Damiano 59
  • Barozzi, Mario 34
  • Vanzetti, Lia Emanuela 29
  • Anderle, Mariano 19
  • Gennaro, Salvatore 19
  • Iacob, Erica 19
  • Pepponi, Giancarlo 13
  • Lazzeri, Paolo 10
  • Demenev, Evgeny 9
  • Meirer, Florian 7
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2022 2
  • 2010 - 2019 30
  • 2000 - 2009 76
  • 1997 - 1999 5
Editore
  • Elsevier 17
  • American Institute of Physics 14
  • AVS 3
  • Wiley 3
  • EDP Sciences 1
  • IOP Publishing 1
  • Scientific.net 1
  • Springer 1
Rivista
  • APPLIED SURFACE SCIENCE 15
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 11
  • JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHN... 10
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 9
  • SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 7
  • NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 5
  • MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING... 4
  • PHYSICA STATUS SOLIDI. C 4
  • SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 4
  • DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID ... 2
Keyword
  • SIMS 26
  • silicon 25
  • diffusion 18
  • annealing 16
  • ion implantation 16
  • boron 10
  • arsenic 9
  • elemental semiconductors 9
  • semiconductor doping 9
  • doping profiles 8
Lingua
  • eng 97
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 106
  • reserved 5
  • open 1
  • restricted 1