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A comparison between mass spectrometry techniques on oxynitrides
1998-01-01 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano
A Study of Physical properties of Vanadium Oxyde-based Gas Sensors
1998-01-01 R., Rella; P., Siciliano; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; A., Cricenti; R., Generosi; C., Coluzza
Arsenic Shallow Implant Characterization by Magnetic Sector and TOF-SIMS Instruments
2002-01-01 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
As ultra shallow depth profiling: comparison between SIMS and MEIS techniques
2004-01-01 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo; J. A., van den Berg; M., Werner
Caratterizzazione SIMS ToF-SIMS e XPS di Ossidonitruri
1998-01-01 M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano
Carbon thin films deposited on Si and PET: study of interface states
2004-01-01 S., Mariazzi; C., Macchi; G. P., Karwasz; A., Zecca; R. S., Brusa; Bensaada Laidani, Nadhira; Bartali, Ruben; Gottardi, Gloria; Anderle, Mariano
Chemical and morphological characterization of nanoporous silica low-k dielectrics etched in fluorocarbon plasmas
2004-01-01 Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; X., Hua; Iacob, Erica; C. K., Inoki; P., Jiang; T. S., Kuan; G. S., Oehrlein
D-Sims and TOF-SIMS quantitative depth profiles on ultra thin oxinitrides
2001-01-01 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; P., Lazzeri; B., Crivelli; F., Zanderigo
Development of liposome-based drug coatings for the treatment of staphylococcal infections
2004-01-01 Pasquardini, Laura; Lunelli, Lorenzo; Pederzolli, Cecilia; Speranza, Giorgio; Vinante, Michele; P., Villani; Canteri, Roberto; Anderle, Mariano
Dopant Redistribution Analysis in RiSi2/Si Systems by SIMS
1998-01-01 M., Sbetti; Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; S. a., Beccara; Anderle, Mariano
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
A comparison between mass spectrometry techniques on oxynitrides | 1-gen-1998 | Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano | |
A Study of Physical properties of Vanadium Oxyde-based Gas Sensors | 1-gen-1998 | R., Rella; P., Siciliano; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; A., Cricenti; R., Generosi; C., Coluzza | |
Arsenic Shallow Implant Characterization by Magnetic Sector and TOF-SIMS Instruments | 1-gen-2002 | Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo | |
As ultra shallow depth profiling: comparison between SIMS and MEIS techniques | 1-gen-2004 | Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo; J. A., van den Berg; M., Werner | |
Caratterizzazione SIMS ToF-SIMS e XPS di Ossidonitruri | 1-gen-1998 | M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano | |
Carbon thin films deposited on Si and PET: study of interface states | 1-gen-2004 | S., Mariazzi; C., Macchi; G. P., Karwasz; A., Zecca; R. S., Brusa; Bensaada Laidani, Nadhira; Bartali, Ruben; Gottardi, Gloria; Anderle, Mariano | |
Chemical and morphological characterization of nanoporous silica low-k dielectrics etched in fluorocarbon plasmas | 1-gen-2004 | Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; X., Hua; Iacob, Erica; C. K., Inoki; P., Jiang; T. S., Kuan; G. S., Oehrlein | |
D-Sims and TOF-SIMS quantitative depth profiles on ultra thin oxinitrides | 1-gen-2001 | Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; P., Lazzeri; B., Crivelli; F., Zanderigo | |
Development of liposome-based drug coatings for the treatment of staphylococcal infections | 1-gen-2004 | Pasquardini, Laura; Lunelli, Lorenzo; Pederzolli, Cecilia; Speranza, Giorgio; Vinante, Michele; P., Villani; Canteri, Roberto; Anderle, Mariano | |
Dopant Redistribution Analysis in RiSi2/Si Systems by SIMS | 1-gen-1998 | M., Sbetti; Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; S. a., Beccara; Anderle, Mariano |
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Tipologia
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Data di pubblicazione
- 2000 - 2010 24
- 1998 - 1999 4
Keyword
- ion implantation 2
- silicon 2
- SIMS 2
- arsenic 1
- BIOSUPERFICI 1
- boron 1
- characterization 1
- MEIS 1
- solid phase epitaxial regrowth 1
- synchrotron radiation GIXRF 1
Lingua
- eng 27
- ita 1
Accesso al fulltext
- no fulltext 28