D-Sims and TOF-SIMS quantitative depth profiles on ultra thin oxinitrides

Anno

2001

Appare nelle tipologie:

5.12 Altro

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A_.*	core.ac.uk	7 giorni	recupero pubblicazioni consigliate per il pannello core-recommander
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CC_.*	creativecommons.org	richiesta http	visualizza licenza bitstream

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