Synchrotron radiation-induced total reflection X-ray fluorescence analysis

Meirer, Florian; Singh, A.; Pepponi, Giancarlo; Streli, C.; Homma, T.; Pianetta, P.

doi:10.1016/j.trac.2010.04.001

Synchrotron radiation-induced total reflection X-ray fluorescence analysis / F. Meirer; A. Singh; G. Pepponi; C. Streli; T. Homma; P. Pianetta. - In: TRENDS IN ANALYTICAL CHEMISTRY. - ISSN 0167-2940. - 29:6(2010), pp. 479-496.

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Titolo:	Synchrotron radiation-induced total reflection X-ray fluorescence analysis
Autori:	Meirer, Florian A. Singh Pepponi, Giancarlo C. Streli T. Homma P. Pianetta mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2010
Rivista:	TRENDS IN ANALYTICAL CHEMISTRY
Handle:	http://hdl.handle.net/11582/19951
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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