Influence of the sample morphology on total reflection X-ray fluorescence analysis

Horntrich, C.; Meirer, Florian; Streli, C.; Kregsamer, P.; Pepponi, Giancarlo; Zoeger, N.; Wobrauschek, P.

doi:10.1154/1.3131804

Influence of the sample morphology on total reflection X-ray fluorescence analysis / C. Horntrich; F. Meirer; C. Streli; P. Kregsamer; G. Pepponi; N. Zoeger; P. Wobrauschek. - In: POWDER DIFFRACTION. - ISSN 0885-7156. - 24:2(2009), pp. 140-144.

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Titolo:	Influence of the sample morphology on total reflection X-ray fluorescence analysis
Autori:	C. Horntrich Meirer, Florian C. Streli P. Kregsamer Pepponi, Giancarlo N. Zoeger P. Wobrauschek mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2009
Rivista:	POWDER DIFFRACTION
Handle:	http://hdl.handle.net/11582/19950
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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