IRIS Institutional Research Information System

XPS and SIMS Depth Profiling of Chlorine in Oxynitrides Obtained by HTO Process

Vanzetti, Lia Emanuela;Bersani, Massimo;Iacob, Erica;Giubertoni, Damiano;Barozzi, Mario;
2001-01-01
2001
4.3 Poster
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