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Barozzi, Mario

Barozzi, Mario  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
2D Optical Gratings Based on Hexagonal Voids on Transparent Elastomeric Substrate 1-gen-2018 Piccolo, Valentina; Chiappini, Andrea; Armellini, Cristina; Barozzi, Mario; Lukowiak, Anna; Sazio, Pier-John; Vaccari, Alessandro; Ferrari, Maurizio; Zonta, Daniele
A very low-energy apparatus for positron scattering on atoms and molecules 1-gen-2000 G. P., Karwasz; Barozzi, Mario; Marco, Bettonte; Roberto, Brusa; Antonio, Zecca
Activated dopant effect on low energy SIMS depth profiling 1-gen-2005 Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Analytical methodology development for Silicon rich oxide chemical physical characterization 1-gen-2007 Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Pucker, Georg; Kompocholis, Constantine
Analytical Methodology Development for Silicon-rich-oxide Chemical and Physical Characterization 1-gen-2007 Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Pucker, Georg; C., Kompocholis
Analytical methodology development for SRO chemical physical characterization 1-gen-2006 Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; C., Kompocholis
Angle resolved XPS for selective characterization of internal and external surface of porous silicon 1-gen-2017 Lion, Anna; Bensaada Laidani, Nadhira; Bettotti, Paolo; Piotto, Chiara; Pepponi, Giancarlo; Barozzi, Mario; Scarpa, Marina
Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione 1-gen-2000 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Arsenic shallow depth profiling: accurate quantification in SiO2/Si stack 1-gen-2004 Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Arsenic shallow implant characterization by magnetic sector and time of flight SIMS instruments 1-gen-2002 Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Marchi E., Boscolo; Anderle, Mariano
Arsenic Shallow Implant Characterization by Magnetic Sector and TOF-SIMS Instruments 1-gen-2002 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Arsenic uphill diffusion during shallow junction formation 1-gen-2006 M., Ferri; S., Solmi; A., Parisini; Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario
As ultra shallow depth profiling: comparison between SIMS and MEIS techniques 1-gen-2004 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo; J. A., van den Berg; M., Werner
Boron Ultra Low Energy SIMS Depth Profiling Improved by Rotating Stage 1-gen-2006 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Anderle
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage 1-gen-2005 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Boron ultra shallow SIMS profiles optimization using oblique incidence oxygen beam 1-gen-2003 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; E., Boscolo; M., Anderle; Bersani, Massimo
Characterisation of ultra-shallow disorder profiles and dielectric functions in ion implanted Si 1-gen-2011 I., Mohacsi; P., Petrik; M., Fried; T., Lohner; J. A., van den Berg; M. A., Reading; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; A., Parisini
Combined XPS, SIMS and AFM analysis of silicon nano-crystals embedded in silicon oxide layers 1-gen-2007 Vanzetti, Lia Emanuela; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; Bellutti, Pierluigi
Combined XPS, SIMS and AFM analysis of silicon nanocrystals embedded in silicon oxide layers 1-gen-2008 Vanzetti, Lia Emanuela; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; Bellutti, Pierluigi
Comparison between the SIMS and MEIS techniques for the characterization of ultra shallow arsenic implants 1-gen-2006 Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Iacob, Erica; J., van den Berg; M., Werner