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Application of low-voltage backscattered electron imaging to the mapping of organic photovoltaic blend morphologies
2015-01-01 Masters, R. C; Wan, Q; Zhou, Y; Sandu, A. M; Dapor, Maurizio; Zhang, H; Lidzey, D. G; Rodenburg, C.
Auger electron spectroscopy and x-ray diffraction studies of Ti-Si layers synthesised by ion implantation
1990-01-01 S., Vidwans; Arun, Narsale; V., Salvi; A., Rangwala; Luis, Guzman; Fabio, Marchetti; Dapor, Maurizio; Calliari, Lucia
Auger quantitative analysis and preferential sputtering in brass alloys
1990-01-01 Fabio, Marchetti; Dapor, Maurizio; Stefano, Girardi; M., Cipparrone; P., Tiscione
Backscattered electrons from gold surface films deposited on silicon substrates: a joint experimental and computational investigation to add new potentiality to electron microscopy
2013-01-01 Dapor, Maurizio; Nicola, Bazzanella; Laura, Toniutti; Antonio, Miotello; Crivellari, Michele; Stefano, Gialanella
Backscattered electrons from surface films deposited on bulk targets: A comparison between computational and experimental results
2011-01-01 Dapor, Maurizio; Nicola, Bazzanella; Laura, Toniutti; Antonio, Miotello; Stefano, Gialanella
Backscattering of electrons from multilayers
1993-01-01 Dapor, Maurizio
Backscattering of electrons from selected oxides: MgO, SiO2, and Al2O3
1999-01-01 Dapor, Maurizio; Antonio, Miotello
Backscattering of electrons from solid targets
1990-01-01 Dapor, Maurizio
Backscattering of Low Energy Electrons from Carbon Films Deposited on Aluminum: a Monte Carlo Simulation
2004-01-01 Dapor, Maurizio
Backscattering of Positrons from Solid Targets
1998-01-01 Dapor, Maurizio; Antonio, Miotello
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