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X-ray diffraction study of P-doped polycrystalline Si thin films used in ULSI devices
1992-01-01 Diego, Bisero; Dapor, Maurizio; Margesin, Benno
“Secondary electron spectra of semi-crystalline polymers – A novel polymer characterisation tool?”
2018-01-01 Dapor, Maurizio; Masters, Robert C.; Ross, Ian; Lidzey, David G.; Pearson, Andrew; Abril, Isabel; Garcia-Molina, Rafael; Sharp, Jo; Unčovský, Marek; Vystavel, Tomas; Mika, Filip; Rodenburg, Cornelia
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| X-ray diffraction study of P-doped polycrystalline Si thin films used in ULSI devices | 1-gen-1992 | Diego, Bisero; Dapor, Maurizio; Margesin, Benno | |
| “Secondary electron spectra of semi-crystalline polymers – A novel polymer characterisation tool?” | 1-gen-2018 | Dapor, Maurizio; Masters, Robert C.; Ross, Ian; Lidzey, David G.; Pearson, Andrew; Abril, Isabel; Garcia-Molina, Rafael; Sharp, Jo; Unčovský, Marek; Vystavel, Tomas; Mika, Filip; Rodenburg, Cornelia |
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Data di pubblicazione
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- 2010 - 2019 39
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