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4.3 Poster: [298] Home page tipologia

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Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 181 a 200 di 298
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Tropos Modeling, Code Generation and Testing with the Taom4E Tool 1-gen-2011 Morandini, Mirko; Nguyen, Duy Cu; Penserini, Loris; Perini, Anna; Susi, Angelo
Adaptable Pervasive Flows: Towards a More Intelligent Environment 1-gen-2011 Bucchiarone, Antonio; S., Foll; K., Herrmann; Pistore, Marco; Raik, Heorhi
Effect of Nanodiamond Particles Incorporation in Hydroxyapatite Coatings 1-gen-2009 Emilia, Pecheva; Lilyana, Pramatarova; Attila, Toth; Todor, Hikov; Dimitrinka, Fingarova; Stavri, Stavrev; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela
The Surface Properties of Silica Based Polymer-Detonation Nanodiamond Composites and Their Application as Cell Support Surfaces 1-gen-2009 Lilyana, Pramatarova; Ekaterina, Radeva; Emilia, Pecheva; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Natalia, Krasteva; Raina, Dimitrova; Dimitrinka, Fingarova; Todor, Hikov
Analytical methodology development for SRO chemical physical characterization 1-gen-2006 Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; C., Kompocholis
Multilayer silicon rich oxy-nitride films characterization by SIMS, VASE and AFM 1-gen-2007 Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Pucker, Georg; C., Kompocholis; Ghulinyan, Mher; Bellutti, Pierluigi
Study on the Capabilities of Morphological Attribute Profiles in Change Detection on VHR Images 1-gen-2010 N., Falco; Dalla Mura, Mauro; Bovolo, Francesca; J. A., Benediktsson; L., Bruzzone
ToF-SIMS and AFM studies of low-k dielectric etching in fluorocarbon plasmas 1-gen-2005 Lazzeri, Paolo; X., Hua; G., Oehrlein; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage 1-gen-2005 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Rotating stage and shallow depth profiling on Cameca SC-Ultra apparatus 1-gen-2004 S., Pederzoli; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
Activated dopant effect on low energy SIMS depth profiling 1-gen-2005 Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
In situ sputtering rate measurement by laser interferometer applied to SIMS analyses 1-gen-2003 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; E., Boscolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
X-ray Photoelectron Spectroscopy of Nitrided Silicon-Silicon Oxide Interface 1-gen-2002 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano
Nitride Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical and Phisico-Chemical Characterization by Complementary Surface Techniques 1-gen-2002 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali
XPS and SIMS Depth Profiling of Chlorine in Oxynitrides Obtained by HTO Process 1-gen-2001 Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; R., Zonca; C., Carpanese; F., Zanderigo
MCs+ and MCs2+ Molecular Ions Emission from Transition Metal Silicides 1-gen-2001 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
Topography developed by sputtering in a magnetic sector instruments: an AFM and SEM study’ 1-gen-2003 Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Lui, Alberto; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Anderle, Mariano
Study of nanoscale structures induced by low energy ion beam 1-gen-2004 Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Bersani, Massimo
Sample topography developed by sputtering in a Cameca instruments: an AFM and SEM study 1-gen-2002 Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Lui, Alberto; Vanzetti, Lia Emanuela; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Anderle, Mariano
TiN/STO/TiN MIMcaps nanolayers on silicon characterized by SIMS and AFM 1-gen-2011 Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Jaap Van Den, Berg; Mike, Reading; Christoph, Adelmann; Hilde, Tielens; Bersani, Massimo; Mihaela, Popovici
Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 181 a 200 di 298
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ...298
Autore
  • Bersani, Massimo39
  • Giubertoni, Damiano34
  • Iacob, Erica29
  • Gottardi, Gloria26
  • Pepponi, Giancarlo23
  • Anderle, Mariano21
  • Barozzi, Mario20
  • Bensaada in Laidani, Nadhira19
  • Lorenzelli, Leandro19
  • Vanzetti, Lia Emanuela18
Data di pubblicazione
  • 2020 - 202424
  • 2010 - 2019185
  • 2000 - 200988
  • 1988 - 19891
Editore
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