Structural Analysis and Depth Profiling of Nanometric SiO2/SRO Multilayers
Barozzi, Mario;Gennaro, Salvatore;Bersani, Massimo;Vanzetti, Lia Emanuela;Jestin, Yoann;Pucker, Georg;
2011-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.