Structural Analysis and Depth Profiling of Nanometric SiO2/SRO Multilayers / M. Barozzi; S. Gennaro; M. Bersani; L. Vanzetti; Y. Jestin; G. Pucker; S. Milita; R. Balboni. - (2011). ((Intervento presentato al convegno SIMS XVIII tenutosi a Riva del Garda, Italy nel da 09/18/2011 a 09/23/2011.
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Titolo: | Structural Analysis and Depth Profiling of Nanometric SiO2/SRO Multilayers |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2011 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11582/115214 |
Appare nelle tipologie: | 4.3 Poster |
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