Boscardin, Maurizio
Boscardin, Maurizio
CRS
100% internal quantum efficiency in polychiral single-walled carbon nanotube bulk heterojunction/silicon solar cells
2017-01-01 De Nicola, Francesco; Salvato, Matteo; Cirillo, Carla; Crivellari, Michele; Boscardin, Maurizio; Passacantando, Maurizio; Nardone, Michele; De Matteis, Fabio; Motta, Nunzio; De Crescenzi, Maurizio; Castrucci, Paola
2D Carbon Material/Silicon Heterojunctions for Fast Response Self-Powered Photodetector
2019-01-01 Scagliotti, M.; Salvato, M.; De Crescenzi, M.; Castrucci, P.; Kovalchuk, N. G.; Komissarov, I. V.; Prischepa, S. L.; Catone, D.; Di Mario, L.; Boscardin, M.; Crivellari, M.
3D active edge silicon sensors: Device processing, yield and QA for the ATLAS-IBL production
2013-01-01 C., Da Vià; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Darbo; C., Fleta; C., Gemme; Giacomini, Gabriele; P., Grenier; S., Grinstein; T. E., Hansen; J., Hasi; C., Kenney; A., Kok; A., La Rosa; A., Micelli; S., Parker; G., Pellegrini; D. L., Pohl; Povoli, Marco; Vianello, Elisa; Zorzi, Nicola; S. J., Watts
3D detectors at ITC-irst: first irradiation studies
2007-01-01 Ronchin, Sabina; Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; Vladimir, Cindro; Dalla Betta, Gian Franco; Piemonte, Claudio; Pozza, Alberto; Andrea, Zoboli; Zorzi, Nicola
3D Detectors on Hydrogenated Amorphous Silicon for particle tracking in high radiation environment
2020-01-01 Menichelli, M; Boscardin, M; Crivellari, M; Davis, J; Dunand, S; Fanò, L; Moscatelli, F; Movileanu-Ionica, M; Petasecca, M; Piccini, M; Rossi, A; Scorzoni, A; Verzellesi, G; Wyrsch, N
3D silicon pixel sensors: Recent test beam results
2011-01-01 Hansson, P.; Balbuena, J.; Barrera, C.; Bolle, E.; Borri, M.; Boscardin, Maurizio; Chmeissan, M.; Dalla Betta, G. F.; Darbo, G.; Da Via, C.; Devetak, E.; Dewilde, B.; Su, D.; Dorholt, O.; Fazio, S.; Fleta, C.; Gemme, C.; Giordani, M.; Gjersdal, H.; Grenier, P.; Grinstein, S.; Hasi, J.; Helle, K.; Huegging, F.; Jackson, P.; Kenney, C.; Kocian, M.; Korolkov, I.; La Rosa, A.; Mastroberardino, A.; Micelli, A.; Nellist, C.; Nordahl, P.; Rivero, F.; Rohne, O.; Sandaker, H.; Silverstein, D.; Sjoebaek, K.; Slaviec, T.; Stupak, J.; Troyano, I.; Tsung, J.; Tsybychev, D.; Wermes, N.; Young, C.
3D Silicon Sensors - Large Area Production, QA and Development for the CERN ATLAS Experiment Pixel Sensor Upgrade
2012-01-01 A., Kok; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; C., Da Viá; G., Darbo; C., Fleta; P., Grenier; S., Grinstein; T. E., Hansen; J., Hasi; C. J., Kenney; S. I., Parker; G., Pellegrini; Vianello, Elisa; Zorzi, Nicola
3D silicon sensors: Design, large area production and quality assurance for the ATLAS IBL pixel detector upgrade
2012-01-01 C., Da Vià; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Darbo; C., Fleta; C., Gemme; P., Grenier; S., Grinstein; T. E., Hansen; J., Hasi; C., Kenney; A., Kok; S., Parker; G., Pellegrini; Vianello, Elisa; Zorzi, Nicola
3D silicon strip detectors
2009-01-01 Ulrich, Parzefall; Richard, Bates; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; Simon, Eckert; Lars, Eklund; Celeste, Fleta; Karl, Jakobs; Susanne, Kuhn; Manuel, Lozano; Gregor, Pahn; Chris, Parkes; Giulio, Pellegrini; David, Pennicard; Piemonte, Claudio; Ronchin, Sabina; Tomasz, Szumlak; Andrea, Zoboli; Zorzi, Nicola
3D stc sensors with different strip isolation schemes and substrate materials
2008-01-01 S., Eckert; K., Jakobs; S., Kühn; U., Parzefall; Boscardin, Maurizio; Piemonte, Claudio; Ronchin, Sabina
3D trenched-electrode sensors for charged particle tracking and timing
2019-01-01 Mendicino, Roberto; Forcolin, Giulio Tiziano; Boscardin, Maurizio; Ficorella, Francesco; Lai, Adriano; Loi, Angelo; Ronchin, Sabina; Vecchi, Stefania; Dalla Betta, Gian-Franco
3D-FBK pixel sensors with CMS readout: First test results
2013-01-01 M., Obertino; A., Solano; A., Vilela Pereira; E., Alagoz; J., Andresen; K., Arndt; G., Bolla; D., Bortoletto; Boscardin, Maurizio; R., Brosius; M., Bubna; G. F., Dalla Betta; F., Jensen; A., Krzywda; A., Kumar; S., Kwan; C. M., Lei; D., Menasce; L., Moroni; J., Ngadiuba; I., Osipenkov; L., Perera; M., Povoli; A., Prosser; R., Rivera; I., Shipsey; P., Tan; S., Terzo; L., Uplegger; S., Wagner; M., Dinardo
3D-FBK pixel sensors: Recent beam tests results with irradiated devices
2011-01-01 A., Micelli; K., Helle; H., Sandaker; B., Stugu; M., Barbero; F., Hügging; M., Karagounis; V., Kostyukhin; H., Krüger; J. W., Tsung; N., Wermes; M., Capua; S., Fazio; A., Mastroberardino; G., Susinno; C., Gallrapp; B., Di Girolamo; D., Dobos; A., La Rosa; H., Pernegger; S., Roe; T., Slavicek; S., Pospisil; K., Jakobs; M., Köhler; U., Parzefall; G., Darbo; G., Gariano; C., Gemme; A., Rovani; E., Ruscino; C., Butter; R., Bates; V., Oshea; S., Parker; M., Cavalli Sforza; S., Grinstein; I., Korokolov; C., Pradilla; K., Einsweiler; M., Garcia Sciveres; M., Borri; C., Da Vià; J., Freestone; S., Kolya; C. H., Lai; C., Nellist; J., Pater; R., Thompson; S. J., Watts; M., Hoeferkamp; S., Seidel; E., Bolle; H., Gjersdal; K. N., Sjoebaek; S., Stapnes; O., Rohne; D., Su; C., Young; P., Hansson; P., Grenier; J., Hasi; C., Kenney; M., Kocian; P., Jackson; D., Silverstein; H., Davetak; B., Dewilde; D., Tsybychev; Dalla Betta, Gian Franco; Gabos, Paolo; Povoli, Marco; M., Cobal; M. P., Giordani; L., Selmi; A., Cristofoli; D., Esseni; P., Palestri; C., Fleta; M., Lozano; G., Pellegrini; Boscardin, Maurizio; Bagolini, Alvise; Piemonte, Claudio; Ronchin, Sabina; Zorzi, Nicola; T. E., Hansen; T., Hansen; A., Kok; N., Lietaer; J., Kalliopuska; A., Oja
A Comparative Evaluation of Integrated Capacitors for AC-Coupled Microstrip Detectors
1998-01-01 Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio
A compensated design of the LGAD gain layer
2022-01-01 Sola, V.; Arcidiacono, R.; Asenov, P.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Centis Vignali, M.; Croci, T.; Ferrero, M.; Fondacci, A.; Gioachin, G.; Giordanengo, S.; Lantieri, L.; Mandurrino, M.; Menzio, L.; Monaco, V.; Morozzi, A.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Pastrone, N.; Paternoster, G.; Siviero, F.; Staiano, A.; Tornago, M.
A computerised analysis tool for the electrical characterisation of microstrip detectors
2002-01-01 Boscardin, Maurizio; N., Carmel Barnea; Dalla Betta, Gian Franco; Ferrario, Lorenza; Zen, Mario; Luciano, Bosisio
A computerised analysis tool for the electrical characterisation of microstrip detectors
1999-01-01 Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; N., Carmel Barnea; Dalla Betta, Gian Franco; Ferrario, Lorenza; Irina, Rachevskaia; Zen, Mario
A digital X-ray imaging system based on silicon strip detectors working in edge-on configuration
2009-01-01 L., Bolanos; Boscardin, Maurizio; A. E., Cabal; M., Diaz; P., Grybos; P., Maj; F., Prino; L., Ramello; R., Szczygiel
A Fabrication Process for Silicon Microstrip Detectors with Integrated Front-End Electronics
2002-01-01 Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; Gregori, Paolo; Zorzi, Nicola; Giorgio Umberto, Pignatel; Giovanni, Batignani; M., Giorgi; Luciano, Bosisio; Ratti, Lodovico; V., Speziali; V., Re
A Low Leakage Process for Silicon Radiation Detectors
1995-01-01 Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
100% internal quantum efficiency in polychiral single-walled carbon nanotube bulk heterojunction/silicon solar cells | 1-gen-2017 | De Nicola, Francesco; Salvato, Matteo; Cirillo, Carla; Crivellari, Michele; Boscardin, Maurizio; Passacantando, Maurizio; Nardone, Michele; De Matteis, Fabio; Motta, Nunzio; De Crescenzi, Maurizio; Castrucci, Paola | |
2D Carbon Material/Silicon Heterojunctions for Fast Response Self-Powered Photodetector | 1-gen-2019 | Scagliotti, M.; Salvato, M.; De Crescenzi, M.; Castrucci, P.; Kovalchuk, N. G.; Komissarov, I. V.; Prischepa, S. L.; Catone, D.; Di Mario, L.; Boscardin, M.; Crivellari, M. | |
3D active edge silicon sensors: Device processing, yield and QA for the ATLAS-IBL production | 1-gen-2013 | C., Da Vià; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Darbo; C., Fleta; C., Gemme; Giacomini, Gabriele; P., Grenier; S., Grinstein; T. E., Hansen; J., Hasi; C., Kenney; A., Kok; A., La Rosa; A., Micelli; S., Parker; G., Pellegrini; D. L., Pohl; Povoli, Marco; Vianello, Elisa; Zorzi, Nicola; S. J., Watts | |
3D detectors at ITC-irst: first irradiation studies | 1-gen-2007 | Ronchin, Sabina; Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; Vladimir, Cindro; Dalla Betta, Gian Franco; Piemonte, Claudio; Pozza, Alberto; Andrea, Zoboli; Zorzi, Nicola | |
3D Detectors on Hydrogenated Amorphous Silicon for particle tracking in high radiation environment | 1-gen-2020 | Menichelli, M; Boscardin, M; Crivellari, M; Davis, J; Dunand, S; Fanò, L; Moscatelli, F; Movileanu-Ionica, M; Petasecca, M; Piccini, M; Rossi, A; Scorzoni, A; Verzellesi, G; Wyrsch, N | |
3D silicon pixel sensors: Recent test beam results | 1-gen-2011 | Hansson, P.; Balbuena, J.; Barrera, C.; Bolle, E.; Borri, M.; Boscardin, Maurizio; Chmeissan, M.; Dalla Betta, G. F.; Darbo, G.; Da Via, C.; Devetak, E.; Dewilde, B.; Su, D.; Dorholt, O.; Fazio, S.; Fleta, C.; Gemme, C.; Giordani, M.; Gjersdal, H.; Grenier, P.; Grinstein, S.; Hasi, J.; Helle, K.; Huegging, F.; Jackson, P.; Kenney, C.; Kocian, M.; Korolkov, I.; La Rosa, A.; Mastroberardino, A.; Micelli, A.; Nellist, C.; Nordahl, P.; Rivero, F.; Rohne, O.; Sandaker, H.; Silverstein, D.; Sjoebaek, K.; Slaviec, T.; Stupak, J.; Troyano, I.; Tsung, J.; Tsybychev, D.; Wermes, N.; Young, C. | |
3D Silicon Sensors - Large Area Production, QA and Development for the CERN ATLAS Experiment Pixel Sensor Upgrade | 1-gen-2012 | A., Kok; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; C., Da Viá; G., Darbo; C., Fleta; P., Grenier; S., Grinstein; T. E., Hansen; J., Hasi; C. J., Kenney; S. I., Parker; G., Pellegrini; Vianello, Elisa; Zorzi, Nicola | |
3D silicon sensors: Design, large area production and quality assurance for the ATLAS IBL pixel detector upgrade | 1-gen-2012 | C., Da Vià; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Darbo; C., Fleta; C., Gemme; P., Grenier; S., Grinstein; T. E., Hansen; J., Hasi; C., Kenney; A., Kok; S., Parker; G., Pellegrini; Vianello, Elisa; Zorzi, Nicola | |
3D silicon strip detectors | 1-gen-2009 | Ulrich, Parzefall; Richard, Bates; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; Simon, Eckert; Lars, Eklund; Celeste, Fleta; Karl, Jakobs; Susanne, Kuhn; Manuel, Lozano; Gregor, Pahn; Chris, Parkes; Giulio, Pellegrini; David, Pennicard; Piemonte, Claudio; Ronchin, Sabina; Tomasz, Szumlak; Andrea, Zoboli; Zorzi, Nicola | |
3D stc sensors with different strip isolation schemes and substrate materials | 1-gen-2008 | S., Eckert; K., Jakobs; S., Kühn; U., Parzefall; Boscardin, Maurizio; Piemonte, Claudio; Ronchin, Sabina | |
3D trenched-electrode sensors for charged particle tracking and timing | 1-gen-2019 | Mendicino, Roberto; Forcolin, Giulio Tiziano; Boscardin, Maurizio; Ficorella, Francesco; Lai, Adriano; Loi, Angelo; Ronchin, Sabina; Vecchi, Stefania; Dalla Betta, Gian-Franco | |
3D-FBK pixel sensors with CMS readout: First test results | 1-gen-2013 | M., Obertino; A., Solano; A., Vilela Pereira; E., Alagoz; J., Andresen; K., Arndt; G., Bolla; D., Bortoletto; Boscardin, Maurizio; R., Brosius; M., Bubna; G. F., Dalla Betta; F., Jensen; A., Krzywda; A., Kumar; S., Kwan; C. M., Lei; D., Menasce; L., Moroni; J., Ngadiuba; I., Osipenkov; L., Perera; M., Povoli; A., Prosser; R., Rivera; I., Shipsey; P., Tan; S., Terzo; L., Uplegger; S., Wagner; M., Dinardo | |
3D-FBK pixel sensors: Recent beam tests results with irradiated devices | 1-gen-2011 | A., Micelli; K., Helle; H., Sandaker; B., Stugu; M., Barbero; F., Hügging; M., Karagounis; V., Kostyukhin; H., Krüger; J. W., Tsung; N., Wermes; M., Capua; S., Fazio; A., Mastroberardino; G., Susinno; C., Gallrapp; B., Di Girolamo; D., Dobos; A., La Rosa; H., Pernegger; S., Roe; T., Slavicek; S., Pospisil; K., Jakobs; M., Köhler; U., Parzefall; G., Darbo; G., Gariano; C., Gemme; A., Rovani; E., Ruscino; C., Butter; R., Bates; V., Oshea; S., Parker; M., Cavalli Sforza; S., Grinstein; I., Korokolov; C., Pradilla; K., Einsweiler; M., Garcia Sciveres; M., Borri; C., Da Vià; J., Freestone; S., Kolya; C. H., Lai; C., Nellist; J., Pater; R., Thompson; S. J., Watts; M., Hoeferkamp; S., Seidel; E., Bolle; H., Gjersdal; K. N., Sjoebaek; S., Stapnes; O., Rohne; D., Su; C., Young; P., Hansson; P., Grenier; J., Hasi; C., Kenney; M., Kocian; P., Jackson; D., Silverstein; H., Davetak; B., Dewilde; D., Tsybychev; Dalla Betta, Gian Franco; Gabos, Paolo; Povoli, Marco; M., Cobal; M. P., Giordani; L., Selmi; A., Cristofoli; D., Esseni; P., Palestri; C., Fleta; M., Lozano; G., Pellegrini; Boscardin, Maurizio; Bagolini, Alvise; Piemonte, Claudio; Ronchin, Sabina; Zorzi, Nicola; T. E., Hansen; T., Hansen; A., Kok; N., Lietaer; J., Kalliopuska; A., Oja | |
A Comparative Evaluation of Integrated Capacitors for AC-Coupled Microstrip Detectors | 1-gen-1998 | Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio | |
A compensated design of the LGAD gain layer | 1-gen-2022 | Sola, V.; Arcidiacono, R.; Asenov, P.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Cartiglia, N.; Centis Vignali, M.; Croci, T.; Ferrero, M.; Fondacci, A.; Gioachin, G.; Giordanengo, S.; Lantieri, L.; Mandurrino, M.; Menzio, L.; Monaco, V.; Morozzi, A.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Pastrone, N.; Paternoster, G.; Siviero, F.; Staiano, A.; Tornago, M. | |
A computerised analysis tool for the electrical characterisation of microstrip detectors | 1-gen-2002 | Boscardin, Maurizio; N., Carmel Barnea; Dalla Betta, Gian Franco; Ferrario, Lorenza; Zen, Mario; Luciano, Bosisio | |
A computerised analysis tool for the electrical characterisation of microstrip detectors | 1-gen-1999 | Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; N., Carmel Barnea; Dalla Betta, Gian Franco; Ferrario, Lorenza; Irina, Rachevskaia; Zen, Mario | |
A digital X-ray imaging system based on silicon strip detectors working in edge-on configuration | 1-gen-2009 | L., Bolanos; Boscardin, Maurizio; A. E., Cabal; M., Diaz; P., Grybos; P., Maj; F., Prino; L., Ramello; R., Szczygiel | |
A Fabrication Process for Silicon Microstrip Detectors with Integrated Front-End Electronics | 1-gen-2002 | Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; Gregori, Paolo; Zorzi, Nicola; Giorgio Umberto, Pignatel; Giovanni, Batignani; M., Giorgi; Luciano, Bosisio; Ratti, Lodovico; V., Speziali; V., Re | |
A Low Leakage Process for Silicon Radiation Detectors | 1-gen-1995 | Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Verzellesi; Giorgio Umberto, Pignatel |