Growth of Tribological Films: In Situ Characterization Based on Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy / F.M. Piras; A. Rossi; N.D. Spencer. - In: LANGMUIR. - ISSN 0743-7463. - 18(2002), pp. 6606-6613.
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Titolo: | Growth of Tribological Films: In Situ Characterization Based on Attenuated Total Reflection Infrared Spectroscopy |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2002 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11582/31013 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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