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X-ray photoelectron spectroscopy of Er3+ activated silica-hafnia waweguides
2007-01-01 Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann; Chiasera, Alessandro
X-ray photoelectron spectroscopy of Er3+-activated SiO2–HfO2 glass-ceramic waveguides
2009-01-01 Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Micheli, Victor; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann
X-ray reflectivity study of the early stages of a-C:H film growth
2005-01-01 Calliari, Lucia; Baranov, Alexandr; S. S., Franchenko; A., Nefedov; A., Varfolomeev
X-ray studies on optical and structural properties of ZnO nanostructured thin films
2006-01-01 S., Larcheri; C., Armellini; Rocca, Francesco; A., Kuzmin; R., Kalendarev; G., Dalba; R., Graziola; J., Purans; D., Pailharey; F., Jandard
XAFS study of Ni surroundings in metal induced crystallization of thin film amorphous silicon
2008-01-01 R., Grisenti; G., Dalba; P., Fornasini; Rocca, Francesco; U. M. K., Koppolu; M. G., Krishna
XAFS study on the local order of Pb in PbO borate glasses
2006-01-01 G., Dalba; P., Fornasini; R., Grisenti; Rocca, Francesco; N., Afify; M., Affatigato
XANES and EXAFS modelling of configurational disorder in silver borate glasses
2005-01-01 G., Dalba; P., Fornasini; A., Kuzmin; F., Monti; A., Sanson; O., Sipr; Rocca, Francesco
XPS and SIMS Depth Profiling of Chlorine in High-Temperature Oxynitrides
2002-01-01 Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; R., Zonca; B., Crivelli; C., Carpanese; F., Zanderigo
XPS and SIMS Depth Profiling of Oxynitrides
2000-01-01 Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano
XPS and SIMS investigation on the role of Nitrogen in Si nanocrystals formation
2005-01-01 Mulloni, Viviana; Bellutti, Pierluigi; Vanzetti, Lia Emanuela
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
X-ray photoelectron spectroscopy of Er3+ activated silica-hafnia waweguides | 1-gen-2007 | Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann; Chiasera, Alessandro | |
X-ray photoelectron spectroscopy of Er3+-activated SiO2–HfO2 glass-ceramic waveguides | 1-gen-2009 | Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Micheli, Victor; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann | |
X-ray reflectivity study of the early stages of a-C:H film growth | 1-gen-2005 | Calliari, Lucia; Baranov, Alexandr; S. S., Franchenko; A., Nefedov; A., Varfolomeev | |
X-ray studies on optical and structural properties of ZnO nanostructured thin films | 1-gen-2006 | S., Larcheri; C., Armellini; Rocca, Francesco; A., Kuzmin; R., Kalendarev; G., Dalba; R., Graziola; J., Purans; D., Pailharey; F., Jandard | |
XAFS study of Ni surroundings in metal induced crystallization of thin film amorphous silicon | 1-gen-2008 | R., Grisenti; G., Dalba; P., Fornasini; Rocca, Francesco; U. M. K., Koppolu; M. G., Krishna | |
XAFS study on the local order of Pb in PbO borate glasses | 1-gen-2006 | G., Dalba; P., Fornasini; R., Grisenti; Rocca, Francesco; N., Afify; M., Affatigato | |
XANES and EXAFS modelling of configurational disorder in silver borate glasses | 1-gen-2005 | G., Dalba; P., Fornasini; A., Kuzmin; F., Monti; A., Sanson; O., Sipr; Rocca, Francesco | |
XPS and SIMS Depth Profiling of Chlorine in High-Temperature Oxynitrides | 1-gen-2002 | Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; R., Zonca; B., Crivelli; C., Carpanese; F., Zanderigo | |
XPS and SIMS Depth Profiling of Oxynitrides | 1-gen-2000 | Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano | |
XPS and SIMS investigation on the role of Nitrogen in Si nanocrystals formation | 1-gen-2005 | Mulloni, Viviana; Bellutti, Pierluigi; Vanzetti, Lia Emanuela |
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Data di pubblicazione
- 2009 258
- 2008 231
- 2007 226
- 2006 238
- 2005 208
- 2004 163
- 2003 101
- 2002 101
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