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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Fabrication, Simulation, and Experimental Characterization of EWT Solar Cells With Deep Grooved Base Contact 1-gen-2016 Paternoster, Giovanni; Nicolai, Massimo; de Ceglia, Giuseppe; Zanuccoli, Mauro; Bellutti, Pierluigi; Ferrario, Lorenza; Sangiorgi, Enrico; Fiegna, Claudio
Fast and large area fabrication of hierarchical bioinspired superhydrophobic silicon surfaces 1-gen-2016 Ghio, Simone; Paternoster, Giovanni; Bartali, Ruben; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Nicola, M. Pugno
First results of a novel Silicon Drift Detector array designed for low energy X-ray fluorescence spectroscopy 1-gen-2016 Rachevski, Alexandre; Ahangarianabhari, Mahdi; Bellutti, Pierluigi; Bertuccio, Giuseppe; Brigo, Elena; Bufon, Jernej; Carrato, Sergio; Castoldi, Andrea; Cautero, Giuseppe; Fabiani, Sergio; Giacomini, Gabriele; Gianoncelli, Alessandra; Giuressi, Dario; Guazzoni, Chiara; Kourousias, George; Liu, Chang; Menk, Ralf Hendrik; Montemurro, Giuseppe Vito; Picciotto, Antonino; Piemonte, Claudio; Rashevskaya, Irina; Shi, Yongbiao; Stolfa, Andrea; Vacchi, Andrea; Zampa, Gianluigi; Zampa, Nicola; Zorzi, Nicola
First-Principles Study of Electronic Conductivity, Structural and Electronic Properties of Oxygen-Vacancy-Defected SnO₂ 1-gen-2021 Krik, Soufiane; Gaiardo, Andrea; Valt, Matteo; Fabbri, Barbara; Malagù, Cesare; Pepponi, Giancarlo; Bellutti, Pierluigi; Guidi, Vincenzo
Forward and Reverse Characteristics of Irradiate MOSFETs 1-gen-1996 A., Paccagnella; M., Ceschia; G., Verzellesi; Dalla Betta, Gian Franco; P. G., Fuochi; Bellutti, Pierluigi; Soncini, Giovanni
Gate Oxide Reliability Improvement related to Dry Local Oxidation of Silicon 1-gen-1999 Bellutti, Pierluigi; Zorzi, Nicola; G., Verzellesi
Graded-size Si-quantum dot ensembles for efficient light emitting diodes 1-gen-2011 A., Anopchenko; A., Marconi; M., Wang; Pucker, Georg; Bellutti, Pierluigi; L., Pavesi
HERMES: An ultra-wide band X and gamma-ray transient monitor on board a nano-satellite constellation 1-gen-2019 Fuschino, F.; Campana, R.; Labanti, C.; Evangelista, Y.; Feroci, M.; Burderi, L.; Fiore, F.; Ambrosino, F.; Baldazzi, G.; Bellutti, P.; Bertacin, R.; Bertuccio, G.; Borghi, G.; Cirrincione, D.; Cauz, D.; Ficorella, F.; Fiorini, M.; Gandola, M.; Grassi, M.; Guzman, A.; Rosa, G. La; Lavagna, M.; Lunghi, P.; Malcovati, P.; Morgante, G.; Negri, B.; Pauletta, G.; Piazzolla, R.; Picciotto, A.; Pirrotta, S.; Pliego-Caballero, S.; Puccetti, S.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Rignanese, L.; Salatti, M.; Santangelo, A.; Silvestrini, S.; Sottile, G.; Tenzer, C.; Vacchi, A.; Zampa, G.; Zampa, N.; Zorzi, N.
High Electric Field induced positive charges in thin gate oxide 1-gen-2001 Bellutti, Pierluigi; Zorzi, Nicola
High power effciency in Si-nc/SiO2 multilayer light emitting devices by bipolar direct tunneling 1-gen-2009 A., Marconi; A., Anopchenko; M., Wang; Pucker, Georg; Bellutti, Pierluigi; L., Pavesi
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Tipologia
  • 1 Contributo su Rivista 113
  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 113
Autore
  • Picciotto, Antonino 38
  • Zorzi, Nicola 28
  • Pucker, Georg 24
  • Bagolini, Alvise 19
  • Ficorella, Francesco 16
  • Borghi, Giacomo 14
  • Boscardin, Maurizio 12
  • Crivellari, Michele 11
  • Gaiardo, Andrea 11
  • Pepponi, Giancarlo 11
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 19
  • 2010 - 2019 50
  • 2000 - 2009 31
  • 1995 - 1999 13
Editore
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  • Electrochemical Society 2
  • IOP Publishing 2
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  • Wiley 1
Rivista
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  • APPLIED SURFACE SCIENCE 2
  • ELECTROCHIMICA ACTA 2
Keyword
  • gate oxide 5
  • complementary metal-oxide-semicon... 4
  • electrical characterization 4
  • X-ray detectors 4
  • LOCOS isolation 3
  • oxide reliability 3
  • PECVD 3
  • Silicon Drift Detectors 3
  • Silicon drift detectors 3
  • silicon nitride 3
Lingua
  • eng 101
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 106
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