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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Depth profiling and quantification of chlorine and nitrogen in oxynitrides obtained by HTO process 1-gen-2000 Bersani, Massimo; M., Sbettti; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica
Dopant Redistribution Analysis in RiSi2/Si Systems by SIMS 1-gen-1998 M., Sbetti; Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; S. a., Beccara; Anderle, Mariano
Grazing Incidence X-Ray Fluorescence characterisation of Ultra Shallow Junctions in the ANNA consortium 1-gen-2008 Pepponi, Giancarlo; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; N., Zoeger; C., Streli; B., Beckhoff; P., Hoenicke; M., Kolbe; M., Mueller
Highly Sensitive Detection of Inorganic Contamination 1-gen-2008 Burkhard, Beckhoff; Andreas, Nutsch; Roswitha, Altmann; G., Borionetti; C., Pello; Maria Luisa, Polignano; Davide, Codegoni; Salvo, Grasso; Elena, Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; Michael, Kolbe; Matthias, Müller; P., Kregsamer; Florian, Posch
Homogeneity study of traces in pine pollen with SR-μXRF 1-gen-2005 Pepponi, Giancarlo; Lazzeri, Paolo; Barozzi, Mario; Bersani, Massimo; B., Kashani; L., Contardi; N., Zoeger; C., Jokubonis; C., Streli; P., Wobrauscheck; E., Gottardini; F., Corradini; R., Larcher; G., Falkenberg
Induced roughness during SIMS analysis by low energy Cs+ beam 1-gen-2004 Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Bersani, Massimo
ispettiva di sorveglianza 04-05 Luglio 2013 1-gen-2013 Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Fedrizzi, Michele; Bortolotti, Mauro
ispettiva di sorveglianza 6-7 giugno 2012. 1-gen-2012 Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Bortolotti, Mauro; Gennaro, Salvatore; Fedrizzi, Michele
Material characterization and the formation of nanoporous PMSSQ low-k dielectrics 1-gen-2003 Lazzeri, Paolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; J. J., Park; Z. Lin R. M., Briber; G. W., Rubloff; R. D., Miller
Morphology structure and interfaces in the preparation of films by SUMBE for gas sensing 1-gen-2003 Iacob, Erica; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo; Coppedè, Nicola; Lazzeri, Paolo; Micheli, Victor; Pallaoro, Alessia; Toccoli, Tullio; Iannotta, Salvatore
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Tipologia
  • 5 Altro 36
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Autore
  • Giubertoni, Damiano 27
  • Barozzi, Mario 20
  • Iacob, Erica 20
  • Anderle, Mariano 14
  • Vanzetti, Lia Emanuela 13
  • Pepponi, Giancarlo 11
  • Gennaro, Salvatore 9
  • Lazzeri, Paolo 6
  • Fedrizzi, Michele 3
  • Meirer, Florian 3
Data di pubblicazione
  • 2010 - 2013 4
  • 2000 - 2009 28
  • 1998 - 1999 4
Keyword
  • SIMS 11
  • silicon 9
  • arsenic 6
  • ion implantation 6
  • boron 4
  • MEIS 4
  • ultra shallow junctions 4
  • EXAFS 3
  • characterization 2
  • doping 2
Lingua
  • eng 31
  • ita 4
Accesso al fulltext
  • no fulltext 36