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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Mechanical properties and strain monitoring of glass-epoxy composites with graphene-coated fibers 1-gen-2018 Mahmood, Haroon; Vanzetti, Lia; Bersani, Massimo; Pegoretti, Alessandro
Multi-Technique Characterization Through Multivariate Statistical Analysis of Copper Phthalocyanine Kinetic Activated Growth by Supersonic Molecular Beam Deposition 1-gen-2014 Dell'Anna, Rossana; Canteri, Roberto; Nicola, Coppedè; Vanzetti, Lia Emanuela; Aderemi Babatunde, Alabi; Enzo, Cazzanelli; Marco, Castriota; Salvatore, Iannotta; Bersani, Massimo
Multilayer silicon rich oxy-nitride films characterization by SIMS, VASE and AFM 1-gen-2008 Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; A., Anderle; Pucker, Georg; Constantine, Kompocholis; Ghulinyan, Mher; Bellutti, Pierluigi
Nitrogen Implantation and Diffusion in Crystalline Germanium: Implantation Energy, Temperature and Ge Surface Protection Dependence 1-gen-2012 D., Skarlatos; Bersani, Massimo; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; N. Z., Vouroutzis; V., Ioannou Sougleridis
Non destructive dose determination and depth profiling of arsenic ultrashallow junctions with total reflection X-ray fluorescence analysis compared to dynamic secondary ion mass spectrometry 1-gen-2004 Pepponi, Giancarlo; C., Streli; P., Wobrauschek; N., Zoeger; K., Leuning; P., Pianetta; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Bersani, Massimo
Nonconventional flash annealing on shallow indium implants in silicon 1-gen-2006 Gennaro, Salvatore; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; J., Foggiato; W. S., Yoo; R., Gwilliam
Observation of point defect injection from electrical de-activation of arsenic ultra-shallow distributions formed by ultra-low energy ion implantation and laser sub-melt annealing 1-gen-2014 Demenev, Evgeny; Meirer, Florian; Essa, Z.; Giubertoni, Damiano; Cristiano, F.; Pepponi, Giancarlo; Gennaro, Salvatore; Bersani, Massimo; Foad, M. A.
Omnidirectional and broadband photon harvesting in self-organized Ge columnar nanovoids 1-gen-2022 Chowdhury, Debasree; Mondal, Shyamal; Secchi, Maria; Giordano, Maria Caterina; Vanzetti, Lia; Barozzi, Mario; Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Buatier de Mongeot, Francesco
On an improved boron segregation calibration from a particularly sensitive power MOS process 1-gen-2014 Koffel, S.; Burenkov, A.; Sekowski, M.; Pichler, P.; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Knaipp, M.; Wachmann, E.; Schrems, M.; Yamamoto, Y.; Bolze, D.
On the photoresist stripping and damage of ultralow k dielectric materials using remote H2- and D2-based discharges 1-gen-2007 Lazzeri, Paolo; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; G. J., Stueber; G. S., Oehrlein; E., Bush; R., Mcgowan
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Tipologia
  • 1 Contributo su Rivista 113
  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 113
Autore
  • Giubertoni, Damiano 59
  • Barozzi, Mario 34
  • Vanzetti, Lia Emanuela 29
  • Anderle, Mariano 19
  • Gennaro, Salvatore 19
  • Iacob, Erica 19
  • Pepponi, Giancarlo 13
  • Lazzeri, Paolo 10
  • Demenev, Evgeny 9
  • Meirer, Florian 7
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2022 2
  • 2010 - 2019 30
  • 2000 - 2009 76
  • 1997 - 1999 5
Editore
  • Elsevier 17
  • American Institute of Physics 14
  • AVS 3
  • Wiley 3
  • EDP Sciences 1
  • IOP Publishing 1
  • Scientific.net 1
  • Springer 1
Rivista
  • APPLIED SURFACE SCIENCE 15
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 11
  • JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHN... 10
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 9
  • SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 7
  • NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 5
  • MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING... 4
  • PHYSICA STATUS SOLIDI. C 4
  • SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 4
  • DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID ... 2
Keyword
  • SIMS 26
  • silicon 25
  • diffusion 18
  • annealing 16
  • ion implantation 16
  • boron 10
  • arsenic 9
  • elemental semiconductors 9
  • semiconductor doping 9
  • doping profiles 8
Lingua
  • eng 97
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