Secondary ion mass spectrometry characterization of deuterated GaAsN films on GaAs / D. Giubertoni; E. Iacob; M. Bersani; M. Anderle; R. Trotta; A. Polimeni; M. Capizzi; F. Martelli; S. Rubini. - (2009). ((Intervento presentato al convegno SIMS XVII - 17th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry tenutosi a Toronto, Canada nel da 09/14/2009 a 09/18/2009.
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Titolo: | Secondary ion mass spectrometry characterization of deuterated GaAsN films on GaAs |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2009 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11582/20089 |
Appare nelle tipologie: | 4.3 Poster |
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