Secondary ion mass spectrometry characterization of deuterated GaAsN films on GaAs

Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Trotta, R.; Polimeni, A.; Capizzi, M.; Martelli, F.; Rubini, S.

Secondary ion mass spectrometry characterization of deuterated GaAsN films on GaAs / D. Giubertoni; E. Iacob; M. Bersani; M. Anderle; R. Trotta; A. Polimeni; M. Capizzi; F. Martelli; S. Rubini. - (2009). ((Intervento presentato al convegno SIMS XVII - 17th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry tenutosi a Toronto, Canada nel da 09/14/2009 a 09/18/2009.

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Titolo:	Secondary ion mass spectrometry characterization of deuterated GaAsN films on GaAs
Autori:	Giubertoni, Damiano Iacob, Erica Bersani, Massimo Anderle, Mariano R. Trotta A. Polimeni M. Capizzi F. Martelli S. Rubini mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2009
Handle:	http://hdl.handle.net/11582/20089
Appare nelle tipologie:	4.3 Poster

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