Lazzeri, Paolo

Lazzeri, Paolo  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Advances in trace metal contaminant analysis by laser-SNMS 1-gen-2000 L., Moro; Lazzeri, Paolo; K. J., Wu
Advances in Trace Metal Contaminant Analysis by Laser-SNMS 1-gen-1999 L., Moro; Lazzeri, Paolo; Wu K., Jen
Application of 118-nm postionization mass spectrometry to the detection of organic compounds on silicon surface 1-gen-1999 L., Moro; Lazzeri, Paolo
Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione 1-gen-2000 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Arsenic shallow implant characterization by magnetic sector and time of flight SIMS instruments 1-gen-2002 Massimo Bersani; Paolo Lazzeri; Damiano Giubertoni; Mario Barozzi; Marchi E. Boscolo; Mariano Anderle
Arsenic Shallow Implant Characterization by Magnetic Sector and TOF-SIMS Instruments 1-gen-2002 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Caratterizzazione chimica di pollini tramite imaging ToF-SIMS e TXRF per indagini ambientali 1-gen-2002 Eva, Carli; Lazzeri, Paolo; Elena, Gottardini; Pepponi, Giancarlo; Fabiana, Cristofolini; Coghe, Nicoletta
Caratterizzazione chimico-fisica e funzionale di pollini per indagini ambientali 1-gen-2002 P., Gottardini; Lazzeri, Paolo; Pepponi, Giancarlo; Fabiana, Cristofolini; Eva, Carli
Caratterizzazione chimico-fisica e funzionale di pollini per indagini ambientali - relazione lavoro 2002 1-gen-2002 Elena, Gottardini; Lazzeri, Paolo
Characterization of trace metal contaminants on Si by laser-SNMS 1-gen-1999 L., Moro; Lazzeri, Paolo; K. J., Wu
Chemical and morphological characterization of nanoporous silica low-k dielectrics etched in fluorocarbon plasmas 1-gen-2004 Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; X., Hua; Iacob, Erica; C. K., Inoki; P., Jiang; T. S., Kuan; G. S., Oehrlein
D-SIMS and ToF-SIMS quantitative depth profiles comparison on ultra thin oxynitrides 1-gen-2003 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Lazzeri, Paolo; B., Crivelli; F., Zanderigo
Damage of ultralow k materials during photoresist mask stripping process 1-gen-2006 X., Hua; M., Kuo; G. S., Oehrlein; Lazzeri, Paolo; Iacob, Erica; Anderle, Mariano; C. K., Inoki; T. S., Kuan; P., Jang; Wen li, Wu
Enhanced spectroscopic properties at 1.5 micron in Er3+/Yb3+ -activated silica-titania planar waveguides fabricated by rf-sputtering 1-gen-2004 Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; S., Pelli; G. C., Righini; M., Ferrari; L., Zampedri; A., Monteil; Lazzeri, Paolo
Enhanced spectroscopic properties at 1.5 um in Er3+ / Yb+3 activated silica-titania planar waveguides fabricated by rf-sputtering 1-gen-2002 Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; Pelli, Stefano; G. C., Righini; Mariano, Ferrari; Luca, Zampedri; Monteil, Andrè Lucien; Lazzeri, Paolo
Fabrication by rf-sputtering processing of Er3+ / Yb3+ codoped silica-titania planar waveguides 1-gen-2002 Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; R. R., Gonsalves; M., Brenci; Pelli, Stefano; G. C., Righini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Casa P., Della
Functional and Chemical Characterization of pollen for environmental quality assessment 1-gen-2002 Lazzeri, Paolo; Elena, Gottardini; Pepponi, Giancarlo; Eva, Carli; Fabiana, Cristofolini; Coghe, Nicoletta
Highly sensitive detection of inorganic contamination 1-gen-2009 B., Beckhoff; A., Nutsch; R., Altmann; G., Borionetti; C., Pello; M. L., Polignano; D., Codegoni; S., Grasso; E., Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; M., Kolbe; M., Mueller; P., Kregsamer; F., Posch
Highly Sensitive Detection of Inorganic Contamination 1-gen-2008 Burkhard, Beckhoff; Andreas, Nutsch; Roswitha, Altmann; G., Borionetti; C., Pello; Maria Luisa, Polignano; Davide, Codegoni; Salvo, Grasso; Elena, Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; Michael, Kolbe; Matthias, Müller; P., Kregsamer; Florian, Posch
Homogeneity study of traces in pine pollen with SR-μXRF 1-gen-2005 Pepponi, Giancarlo; Lazzeri, Paolo; Barozzi, Mario; Bersani, Massimo; B., Kashani; L., Contardi; N., Zoeger; C., Jokubonis; C., Streli; P., Wobrauscheck; E., Gottardini; F., Corradini; R., Larcher; G., Falkenberg