Lazzeri, Paolo
Lazzeri, Paolo
MiNALab
Advances in Trace Metal Contaminant Analysis by Laser-SNMS
1999-01-01 L., Moro; Lazzeri, Paolo; Wu K., Jen
Advances in trace metal contaminant analysis by laser-SNMS
2000-01-01 L., Moro; Lazzeri, Paolo; K. J., Wu
Application of 118-nm postionization mass spectrometry to the detection of organic compounds on silicon surface
1999-01-01 L., Moro; Lazzeri, Paolo
Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione
2000-01-01 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Arsenic shallow implant characterization by magnetic sector and time of flight SIMS instruments
2002-01-01 Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Marchi E., Boscolo; Anderle, Mariano
Arsenic Shallow Implant Characterization by Magnetic Sector and TOF-SIMS Instruments
2002-01-01 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Caratterizzazione chimica di pollini tramite imaging ToF-SIMS e TXRF per indagini ambientali
2002-01-01 Eva, Carli; Lazzeri, Paolo; Elena, Gottardini; Pepponi, Giancarlo; Fabiana, Cristofolini; Coghe, Nicoletta
Caratterizzazione chimico-fisica e funzionale di pollini per indagini ambientali
2002-01-01 P., Gottardini; Lazzeri, Paolo; Pepponi, Giancarlo; Fabiana, Cristofolini; Eva, Carli
Caratterizzazione chimico-fisica e funzionale di pollini per indagini ambientali - relazione lavoro 2002
2002-01-01 Elena, Gottardini; Lazzeri, Paolo
Characterization of trace metal contaminants on Si by laser-SNMS
1999-01-01 L., Moro; Lazzeri, Paolo; K. J., Wu
Chemical and morphological characterization of nanoporous silica low-k dielectrics etched in fluorocarbon plasmas
2004-01-01 Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; X., Hua; Iacob, Erica; C. K., Inoki; P., Jiang; T. S., Kuan; G. S., Oehrlein
D-SIMS and ToF-SIMS quantitative depth profiles comparison on ultra thin oxynitrides
2003-01-01 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Lazzeri, Paolo; B., Crivelli; F., Zanderigo
Damage of ultralow k materials during photoresist mask stripping process
2006-01-01 X., Hua; M., Kuo; G. S., Oehrlein; Lazzeri, Paolo; Iacob, Erica; Anderle, Mariano; C. K., Inoki; T. S., Kuan; P., Jang; Wen li, Wu
Enhanced spectroscopic properties at 1.5 micron in Er3+/Yb3+ -activated silica-titania planar waveguides fabricated by rf-sputtering
2004-01-01 Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; S., Pelli; G. C., Righini; M., Ferrari; L., Zampedri; A., Monteil; Lazzeri, Paolo
Enhanced spectroscopic properties at 1.5 um in Er3+ / Yb+3 activated silica-titania planar waveguides fabricated by rf-sputtering
2002-01-01 Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; Pelli, Stefano; G. C., Righini; Mariano, Ferrari; Luca, Zampedri; Monteil, Andrè Lucien; Lazzeri, Paolo
Fabrication by rf-sputtering processing of Er3+ / Yb3+ codoped silica-titania planar waveguides
2002-01-01 Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; R. R., Gonsalves; M., Brenci; Pelli, Stefano; G. C., Righini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Casa P., Della
Functional and Chemical Characterization of pollen for environmental quality assessment
2002-01-01 Lazzeri, Paolo; Elena, Gottardini; Pepponi, Giancarlo; Eva, Carli; Fabiana, Cristofolini; Coghe, Nicoletta
Highly sensitive detection of inorganic contamination
2009-01-01 B., Beckhoff; A., Nutsch; R., Altmann; G., Borionetti; C., Pello; M. L., Polignano; D., Codegoni; S., Grasso; E., Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; M., Kolbe; M., Mueller; P., Kregsamer; F., Posch
Highly Sensitive Detection of Inorganic Contamination
2008-01-01 Burkhard, Beckhoff; Andreas, Nutsch; Roswitha, Altmann; G., Borionetti; C., Pello; Maria Luisa, Polignano; Davide, Codegoni; Salvo, Grasso; Elena, Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; Michael, Kolbe; Matthias, Müller; P., Kregsamer; Florian, Posch
Homogeneity study of traces in pine pollen with SR-μXRF
2005-01-01 Pepponi, Giancarlo; Lazzeri, Paolo; Barozzi, Mario; Bersani, Massimo; B., Kashani; L., Contardi; N., Zoeger; C., Jokubonis; C., Streli; P., Wobrauscheck; E., Gottardini; F., Corradini; R., Larcher; G., Falkenberg
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Advances in Trace Metal Contaminant Analysis by Laser-SNMS | 1-gen-1999 | L., Moro; Lazzeri, Paolo; Wu K., Jen | |
Advances in trace metal contaminant analysis by laser-SNMS | 1-gen-2000 | L., Moro; Lazzeri, Paolo; K. J., Wu | |
Application of 118-nm postionization mass spectrometry to the detection of organic compounds on silicon surface | 1-gen-1999 | L., Moro; Lazzeri, Paolo | |
Applicazioni della spettrometria di massa a materiali e tecniche di ultima generazione | 1-gen-2000 | Bersani, Massimo; M., Sbetti; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano | |
Arsenic shallow implant characterization by magnetic sector and time of flight SIMS instruments | 1-gen-2002 | Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Marchi E., Boscolo; Anderle, Mariano | |
Arsenic Shallow Implant Characterization by Magnetic Sector and TOF-SIMS Instruments | 1-gen-2002 | Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo | |
Caratterizzazione chimica di pollini tramite imaging ToF-SIMS e TXRF per indagini ambientali | 1-gen-2002 | Eva, Carli; Lazzeri, Paolo; Elena, Gottardini; Pepponi, Giancarlo; Fabiana, Cristofolini; Coghe, Nicoletta | |
Caratterizzazione chimico-fisica e funzionale di pollini per indagini ambientali | 1-gen-2002 | P., Gottardini; Lazzeri, Paolo; Pepponi, Giancarlo; Fabiana, Cristofolini; Eva, Carli | |
Caratterizzazione chimico-fisica e funzionale di pollini per indagini ambientali - relazione lavoro 2002 | 1-gen-2002 | Elena, Gottardini; Lazzeri, Paolo | |
Characterization of trace metal contaminants on Si by laser-SNMS | 1-gen-1999 | L., Moro; Lazzeri, Paolo; K. J., Wu | |
Chemical and morphological characterization of nanoporous silica low-k dielectrics etched in fluorocarbon plasmas | 1-gen-2004 | Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; X., Hua; Iacob, Erica; C. K., Inoki; P., Jiang; T. S., Kuan; G. S., Oehrlein | |
D-SIMS and ToF-SIMS quantitative depth profiles comparison on ultra thin oxynitrides | 1-gen-2003 | Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Lazzeri, Paolo; B., Crivelli; F., Zanderigo | |
Damage of ultralow k materials during photoresist mask stripping process | 1-gen-2006 | X., Hua; M., Kuo; G. S., Oehrlein; Lazzeri, Paolo; Iacob, Erica; Anderle, Mariano; C. K., Inoki; T. S., Kuan; P., Jang; Wen li, Wu | |
Enhanced spectroscopic properties at 1.5 micron in Er3+/Yb3+ -activated silica-titania planar waveguides fabricated by rf-sputtering | 1-gen-2004 | Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; S., Pelli; G. C., Righini; M., Ferrari; L., Zampedri; A., Monteil; Lazzeri, Paolo | |
Enhanced spectroscopic properties at 1.5 um in Er3+ / Yb+3 activated silica-titania planar waveguides fabricated by rf-sputtering | 1-gen-2002 | Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; Pelli, Stefano; G. C., Righini; Mariano, Ferrari; Luca, Zampedri; Monteil, Andrè Lucien; Lazzeri, Paolo | |
Fabrication by rf-sputtering processing of Er3+ / Yb3+ codoped silica-titania planar waveguides | 1-gen-2002 | Chiasera, Alessandro; M., Montagna; C., Tosello; R. R., Gonsalves; M., Brenci; Pelli, Stefano; G. C., Righini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Casa P., Della | |
Functional and Chemical Characterization of pollen for environmental quality assessment | 1-gen-2002 | Lazzeri, Paolo; Elena, Gottardini; Pepponi, Giancarlo; Eva, Carli; Fabiana, Cristofolini; Coghe, Nicoletta | |
Highly sensitive detection of inorganic contamination | 1-gen-2009 | B., Beckhoff; A., Nutsch; R., Altmann; G., Borionetti; C., Pello; M. L., Polignano; D., Codegoni; S., Grasso; E., Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; M., Kolbe; M., Mueller; P., Kregsamer; F., Posch | |
Highly Sensitive Detection of Inorganic Contamination | 1-gen-2008 | Burkhard, Beckhoff; Andreas, Nutsch; Roswitha, Altmann; G., Borionetti; C., Pello; Maria Luisa, Polignano; Davide, Codegoni; Salvo, Grasso; Elena, Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; Michael, Kolbe; Matthias, Müller; P., Kregsamer; Florian, Posch | |
Homogeneity study of traces in pine pollen with SR-μXRF | 1-gen-2005 | Pepponi, Giancarlo; Lazzeri, Paolo; Barozzi, Mario; Bersani, Massimo; B., Kashani; L., Contardi; N., Zoeger; C., Jokubonis; C., Streli; P., Wobrauscheck; E., Gottardini; F., Corradini; R., Larcher; G., Falkenberg |