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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Trace-element XAFS sensitivity: a stress test for a new XRF multi-detector 1-gen-2021 Carlomagno, Ilaria; Antonelli, Matias; Aquilanti, Giuliana; Bellutti, Pierluigi; Bertuccio, Giuseppe; Borghi, Giacomo; Cautero, Giuseppe; Cirrincione, Daniela; de Giudici, Giovanni; Ficorella, Francesco; Gandola, Massimo; Giuressi, Dario; Medas, Daniela; Mele, Filippo; Menk, Ralf H.; Olivi, Luca; Orzan, Giulio; Picciotto, Antonino; Podda, Francesca; Rachevski, Alexandre; Rashevskaya, Irina; Stebel, Luigi; Vacchi, Andrea; Zampa, Gianluigi; Zampa, Nicola; Zorzi, Nicola; Meneghini, Carlo
Triple-junction colour sensor fully compatible with CMOS technology: results of a test chip 1-gen-2002 Dalla Betta, Gian Franco; Zorzi, Nicola; Bellutti, Pierluigi; Boscardin, Maurizio; Soncini, Giovanni
Ultra-high cell-density silicon photomultipliers with high detection efficiency 1-gen-2017 Acerbi, Fabio; Gola, Alberto Giacomo; Regazzoni, Veronica; Paternoster, Giovanni; Borghi, Giacomo; Piemonte, Claudio; Zorzi, Nicola
X-/γ-Ray Detection Instrument for the HERMES Nano-Satellites Based on SDDs Read-Out by the LYRA Mixed-Signal ASIC Chipset 1-gen-2020 Grassi, M.; Gandola, M.; Mele, F.; Bertuccio, G.; Malcovati, P.; Fuschino, F.; Campana, R.; Labanti, C.; Fiorini, M.; Evangelista, Y.; Piazzolla, R.; Feroci, M.; Zampa, G.; Zampa, N.; Rachevski, A.; Bellutti, P.; Borghi, G.; Demenev, E.; Ficorella, F.; Picciotto, A.; Zorzi, N.; Rashevskaya, I.; Vacchi, A.; Fiore, F.; Burderi, L.
X-Ray Silicon Drift Detector – CMOS Front-End System with High Energy Resolution at Room Temperature 1-gen-2016 Bertuccio, G.; Ahangarianabhari, M.; Graziani, C.; Macera, D.; Shi, Y.; Gandola, M.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Vacchi, A.; Zampa, G.; Zampa, N.; Bellutti, Pierluigi; Giacomini, Gabriele; Picciotto, Antonino; Piemonte, Claudio; Zorzi, Nicola
XRF topography information: Simulations and data from a novel silicon drift detector system 1-gen-2019 Kourousias, G.; Billè, F.; Cautero, G.; Bufon, J.; Rachevski, A.; Schillani, S.; Cirrincione, D.; Altissimo, M.; Menk, R. H.; Zampa, G.; Zampa, N.; Rashevskaya, I.; Borghes, R.; Gandola, M.; Picciotto, A.; Borghi, G.; Ficorella, F.; Zorzi, N.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Vacchi, A.; Gianoncelli, A.
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  • 3 Libro::3.1 Monografia o trattat... 1
  • 6 Brevetti 1
  • 6 Brevetti::6.1 Brevetto 1
Autore
  • Boscardin, Maurizio 181
  • Piemonte, Claudio 161
  • Dalla Betta, Gian Franco 142
  • Ronchin, Sabina 81
  • Bellutti, Pierluigi 71
  • Picciotto, Antonino 52
  • Giacomini, Gabriele 51
  • Gola, Alberto Giacomo 50
  • Borghi, Giacomo 47
  • Ficorella, Francesco 46
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 39
  • 2010 - 2019 150
  • 2000 - 2009 124
  • 1990 - 1999 32
  • 1989 - 1989 1
Editore
  • IEEE 84
  • Elsevier 61
  • SPIE 8
  • IOP Publishing 6
  • SPIE, the international society f... 6
  • Electrochemical Society 4
  • World Scientific Publishing 4
  • no publisher 2
  • SISSA 2
  • AIP Publishing 1
Rivista
  • NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 105
  • JOURNAL OF INSTRUMENTATION 28
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 25
  • MICROELECTRONICS JOURNAL 5
  • IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS I... 4
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 3
  • JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SE... 3
  • POS PROCEEDINGS OF SCIENCE 3
  • FRONTIERS IN PHYSICS 2
  • MICROELECTRONICS RELIABILITY 2
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 9
  • PROCEEDINGS OF SPIE 6
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 1
Keyword
  • 3D detectors 35
  • silicon radiation detectors 35
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