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Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 361 a 380 di 1.261
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Meli: un sistema di supporto per la protezione integrata 1-gen-1995 Perini, Anna
POMI: dal laboratorio al frutteto? 1-gen-1996 Perini, Anna; D., Forti
Il computer in campagna 1-gen-1995 Perini, Anna
Theory of Regulatory Compliance for Requirements Engineering 1-gen-2010 Ivan, Jureta; Siena, Alberto; Mylopoulos, John; Perini, Anna; Susi, Angelo
Conceptual Modeling in Wikis: a Reference Architecture and a Tool 1-gen-2010 Ghidini, Chiara; Rospocher, Marco; Serafini, Luciano
Distributed First Order Logic 1-gen-2010 Ghidini, Chiara; Serafini, Luciano
Testing - Strumentazione a correnti indotte 1-gen-2001 Bozzoli, Alessandro; S., Girardi
Sistemi di Sorveglianza, ricadute della ricerca in IRST per le aziende del settore informatico 1-gen-1993 Bozzoli, Alessandro
A robust change detection scheme for moving object segmentation 1-gen-1993 Bozzoli, Alessandro; M., Boninsegna
Highly Sensitive Detection of Inorganic Contamination 1-gen-2008 Burkhard, Beckhoff; Andreas, Nutsch; Roswitha, Altmann; G., Borionetti; C., Pello; Maria Luisa, Polignano; Davide, Codegoni; Salvo, Grasso; Elena, Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; Michael, Kolbe; Matthias, Müller; P., Kregsamer; Florian, Posch
Grazing Incidence X-Ray Fluorescence characterisation of Ultra Shallow Junctions in the ANNA consortium 1-gen-2008 Pepponi, Giancarlo; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; N., Zoeger; C., Streli; B., Beckhoff; P., Hoenicke; M., Kolbe; M., Mueller
Secondary ion mass spectrometry analysis applications on semiconductor materials 1-gen-2008 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Gennaro, Salvatore; Barozzi, Mario; Canteri, Roberto; Vanzetti, Lia Emanuela; Pepponi, Giancarlo; Anderle, Mariano
Characterization of As Implants and Hf Layer with a new Spectrometer for Grazing Incidence XRF 1-gen-2009 C., Streli; D., Ingerle; Meirer, Florian; N., Zoeger; Pepponi, Giancarlo; Giubertoni, Damiano; P., Wobrauschek; C., Streli
Characterization of Junction Activation and Deactivation Using non-Equilibrium 1-gen-2009 Bersani, Massimo; Pepponi, Giancarlo; Giubertoni, Damiano; Gennaro, Salvatore; M. A., Sahiner; S. P., Kelty; M., Kah; K. J., Kirkby; R., Doherty; M. A., Foad; Meirer, Florian; C., Streli; J. C., Woicik; P., Piane
Comparison of TXRF Systems for Si wafer surface analysis at different laboratories of ANNA 1-gen-2009 Pepponi, Giancarlo; A., Nutsch; B., Beckhoff; R., Altmann; M. L., Polignano; G., Borionetti; P., Kregsamer; C., Streli
X-Ray Analysis using Synchrotron Radiation 1-gen-2009 C., Streli; Meirer, Florian; Peter, Wobrauschek; Norbert, Zoeger; Pepponi, Giancarlo
TXRF using laboratory sources and Synchrotron radiation 1-gen-2009 C., Streli; P., Wobrauschek; Meirer, Florian; Pepponi, Giancarlo
Developments in TXRF analysis 1-gen-2009 C., Streli; Meirer, Florian; P., Wobrauschek; Pepponi, Giancarlo
Homogeneity study of traces in pine pollen with SR-μXRF 1-gen-2005 Pepponi, Giancarlo; Lazzeri, Paolo; Barozzi, Mario; Bersani, Massimo; B., Kashani; L., Contardi; N., Zoeger; C., Jokubonis; C., Streli; P., Wobrauscheck; E., Gottardini; F., Corradini; R., Larcher; G., Falkenberg
Silicon nanostructures for photonics 1-gen-2004 Ghulinyan, Mher; Z., Gaburro; N., Daldosso; L., Pavesi
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Tipologia
  • 5 Altro1261
Autore
  • Merler, Stefano74
  • Ajelli, Marco52
  • Perini, Anna51
  • Serafini, Luciano47
  • Ricci, Francesco44
  • Avesani, Paolo37
  • Bersani, Massimo36
  • Giubertoni, Damiano31
  • Anderle, Mariano28
  • Furlanello, Cesare27
Data di pubblicazione
  • 2020 - 202563
  • 2010 - 2019264
  • 2000 - 2009650
  • 1990 - 1999278
  • 1982 - 19896
Editore
  • Fondazione Civiltà Bresciana2
  • Assindustria Trento1
  • Università degli studi di Trento1
  • Università degli Studi di Trento....1
Keyword
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