RicercaInizia una nuova ricerca
NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Nanostructures by assembling clusters and molecules from supersonic beams: A novel approach for gas sensing devices
2003-01-01 Toccoli, Tullio; Pallaoro, Alessia; Coppedè, Nicola; Iannotta, Salvatore; E., Barborini; P., Milani; A. M., Taurino; P., Siciliano; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
Nitrided Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical And Physico-Chemical Characterization By Complementary Surface Analysis Techniques
2002-01-01 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali
SIMS analytical conditions optimized to reduce the morphology induced by sputtering with an oblique O2+ beam
2004-01-01 Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Surface investigation of archeological glasses by secondary ion mass spectrometry
2005-01-01 S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Lazzeri, Paolo; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; G., Giunta; E., di Paola
Tof-Sims and XPS Characterization of urban aerosols for pollution studies
2001-01-01 Lazzeri, Paolo; G., Clauser; Lui, Alberto; Iacob, Erica; G., Tonidandel; Anderle, Mariano
Ultra low energy Boron implants in silicon characterization by not-oxidizing secondary ion mass spectrometry analysis and soft-ray grazing incidence x-ray fluorescence techniques.
2009-01-01 Giubertoni, Damiano; Pepponi, Giancarlo; P., Hoenicke; B., Beckhoff; Iacob, Erica; Gennaro, Salvatore; Bersani, Massimo
Ultra low energy Boron ion implants in silicon analyzed by not-oxydizing O2+ bombardment and synchrotron radiation grazing incidence x-ray fluorescence
2009-01-01 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Pepponi, Giancarlo; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Hoenicke; B., Beckhoff
Ultra shallow Boron junctions in silicon characterization by secondary ion mass spectrometry and synchrotron radiation grazing incidence x-ray fluorescence techniques
2009-01-01 Giubertoni, Damiano; P., Hoenicke; B., Beckhoff; Pepponi, Giancarlo; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Ultra shallow junction analysis for technology nodes beyond 65nm
2005-01-01 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Ultra thin oxynitride profiles by XPS etch-back analyses
2004-01-01 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Nanostructures by assembling clusters and molecules from supersonic beams: A novel approach for gas sensing devices | 1-gen-2003 | Toccoli, Tullio; Pallaoro, Alessia; Coppedè, Nicola; Iannotta, Salvatore; E., Barborini; P., Milani; A. M., Taurino; P., Siciliano; Iacob, Erica; Anderle, Mariano | |
| Nitrided Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical And Physico-Chemical Characterization By Complementary Surface Analysis Techniques | 1-gen-2002 | Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali | |
| SIMS analytical conditions optimized to reduce the morphology induced by sputtering with an oblique O2+ beam | 1-gen-2004 | Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Iacob, Erica; Bersani, Massimo | |
| Surface investigation of archeological glasses by secondary ion mass spectrometry | 1-gen-2005 | S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Lazzeri, Paolo; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; G., Giunta; E., di Paola | |
| Tof-Sims and XPS Characterization of urban aerosols for pollution studies | 1-gen-2001 | Lazzeri, Paolo; G., Clauser; Lui, Alberto; Iacob, Erica; G., Tonidandel; Anderle, Mariano | |
| Ultra low energy Boron implants in silicon characterization by not-oxidizing secondary ion mass spectrometry analysis and soft-ray grazing incidence x-ray fluorescence techniques. | 1-gen-2009 | Giubertoni, Damiano; Pepponi, Giancarlo; P., Hoenicke; B., Beckhoff; Iacob, Erica; Gennaro, Salvatore; Bersani, Massimo | |
| Ultra low energy Boron ion implants in silicon analyzed by not-oxydizing O2+ bombardment and synchrotron radiation grazing incidence x-ray fluorescence | 1-gen-2009 | Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Pepponi, Giancarlo; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Hoenicke; B., Beckhoff | |
| Ultra shallow Boron junctions in silicon characterization by secondary ion mass spectrometry and synchrotron radiation grazing incidence x-ray fluorescence techniques | 1-gen-2009 | Giubertoni, Damiano; P., Hoenicke; B., Beckhoff; Pepponi, Giancarlo; Iacob, Erica; Bersani, Massimo | |
| Ultra shallow junction analysis for technology nodes beyond 65nm | 1-gen-2005 | Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo | |
| Ultra thin oxynitride profiles by XPS etch-back analyses | 1-gen-2004 | Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali |
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile
Opzioni
Scopri
Tipologia
- 5 Altro 23
- 5 Altro::5.12 Altro 23
Data di pubblicazione
- 2010 - 2013 4
- 2000 - 2009 19
Keyword
- SIMS 5
- boron 3
- ion implantation 3
- silicon 3
- ultra shallow junctions 3
- Arsenic 1
- asbestos 1
- ferritic steel 1
- GIXRF 1
- ISO/IEC 17025 1
Lingua
- eng 19
- ita 3
Accesso al fulltext
- no fulltext 23