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Analytical methodology development for SRO chemical physical characterization
2006-01-01 Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; C., Kompocholis
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage
2005-01-01 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Chemical characterization of Taq DNA polymerase adsorption on different surfaces
2007-01-01 Canteri, Roberto; Dell'Anna, Rossana; Forti, Stefania; Lunelli, Lorenzo; Pasquardini, Laura; Pederzolli, Cecilia; Potrich, Cristina; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Diego, Vozzi; Cristina, Zadro; Paolo, Gasparini
Columnar nano-void formation on Germanium under Sn+ ion implantation: Ge1-xSnx walls
2014-01-01 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo
Deposition of Organic Thin Films on Inorganic Nanostructured Substrates by SuMBD: A Multivariate Statistical Analysis of Surface Characterization Measurements to Investigate the Interaction at the Interface
2014-01-01 Dell'Anna, Rossana; Canteri, Roberto; N., Coppedè; Vanzetti, Lia Emanuela; E., Cazzanelli; S., Iannotta; Bersani, Massimo
Effect of Nanodiamond Particles Incorporation in Hydroxyapatite Coatings
2009-01-01 Emilia, Pecheva; Lilyana, Pramatarova; Attila, Toth; Todor, Hikov; Dimitrinka, Fingarova; Stavri, Stavrev; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela
In situ sputtering rate measurement by laser interferometer applied to SIMS analyses
2003-01-01 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; E., Boscolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Anderle, Mariano
Multilayer silicon rich oxy-nitride films characterization by SIMS, VASE and AFM
2007-01-01 Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Pucker, Georg; C., Kompocholis; Ghulinyan, Mher; Bellutti, Pierluigi
Nitride Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical and Phisico-Chemical Characterization by Complementary Surface Techniques
2002-01-01 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali
Quality management system and accreditation of measurements in a surface science laboratory. The case study of MiNALab.
2013-01-01 Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Gennaro, Salvatore; Pecoraro, F.; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Bortolotti, Mauro; Pepponi, Giancarlo; Fedrizzi, Michele; Bersani, Massimo
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Analytical methodology development for SRO chemical physical characterization | 1-gen-2006 | Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; C., Kompocholis | |
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage | 1-gen-2005 | Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo | |
Chemical characterization of Taq DNA polymerase adsorption on different surfaces | 1-gen-2007 | Canteri, Roberto; Dell'Anna, Rossana; Forti, Stefania; Lunelli, Lorenzo; Pasquardini, Laura; Pederzolli, Cecilia; Potrich, Cristina; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Diego, Vozzi; Cristina, Zadro; Paolo, Gasparini | |
Columnar nano-void formation on Germanium under Sn+ ion implantation: Ge1-xSnx walls | 1-gen-2014 | Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo | |
Deposition of Organic Thin Films on Inorganic Nanostructured Substrates by SuMBD: A Multivariate Statistical Analysis of Surface Characterization Measurements to Investigate the Interaction at the Interface | 1-gen-2014 | Dell'Anna, Rossana; Canteri, Roberto; N., Coppedè; Vanzetti, Lia Emanuela; E., Cazzanelli; S., Iannotta; Bersani, Massimo | |
Effect of Nanodiamond Particles Incorporation in Hydroxyapatite Coatings | 1-gen-2009 | Emilia, Pecheva; Lilyana, Pramatarova; Attila, Toth; Todor, Hikov; Dimitrinka, Fingarova; Stavri, Stavrev; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela | |
In situ sputtering rate measurement by laser interferometer applied to SIMS analyses | 1-gen-2003 | Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; E., Boscolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Anderle, Mariano | |
Multilayer silicon rich oxy-nitride films characterization by SIMS, VASE and AFM | 1-gen-2007 | Barozzi, Mario; Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; Pucker, Georg; C., Kompocholis; Ghulinyan, Mher; Bellutti, Pierluigi | |
Nitride Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical and Phisico-Chemical Characterization by Complementary Surface Techniques | 1-gen-2002 | Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali | |
Quality management system and accreditation of measurements in a surface science laboratory. The case study of MiNALab. | 1-gen-2013 | Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Gennaro, Salvatore; Pecoraro, F.; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Bortolotti, Mauro; Pepponi, Giancarlo; Fedrizzi, Michele; Bersani, Massimo |
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Tipologia
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 18
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Data di pubblicazione
- 2010 - 2014 4
- 2001 - 2009 14
Editore
- A. Rossi, B. Elsener grafiche Gh... 1
Keyword
- SIMS 2
- accreditation 1
- asbestos 1
- BIOSUPERFICI 1
- ISO/IEC 17025 1
- PECVD 1
- RTA 1
- SEM 1
- SRO multi-layers 1
- text methods 1
Lingua
- eng 17
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- no fulltext 18