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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Nanotensile tests, microscopy characterization and atomistic simulations of carbon nanotubes fibers 1-gen-2013 Maria F., Pantano; Vesselin, Shanov; Mark J., Schulz; Fedrizzi, Michele; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Taioli, Simone; Silvio A., Beccara; Pugno, Nicola
Nitride Silicon-Silicon Dioxide Interface: Electrical and Phisico-Chemical Characterization by Complementary Surface Techniques 1-gen-2002 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; P., Bacciaglia; B., Crivelli; M. L., Polignano; M. E., Vitali
Quality management system and accreditation of measurements in a surface science laboratory. The case study of MiNALab. 1-gen-2013 Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Gennaro, Salvatore; Pecoraro, F.; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Bortolotti, Mauro; Pepponi, Giancarlo; Fedrizzi, Michele; Bersani, Massimo
Quality management system and accreditation of measurements on scientific high-level technological laboratory. The case study of MiNALab 1-gen-2012 Iacob, Erica; Gennaro, S.; Pecoraro, F.; Bersani, Massimo
Rotating stage and shallow depth profiling on Cameca SC-Ultra apparatus 1-gen-2004 S., Pederzoli; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
Sample topography developed by sputtering in a Cameca instruments: an AFM and SEM study 1-gen-2002 Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Lui, Alberto; Vanzetti, Lia Emanuela; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Anderle, Mariano
Secondary ion mass spectrometry characterization of deuterated GaAsN films on GaAs 1-gen-2009 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; R., Trotta; A., Polimeni; M., Capizzi; F., Martelli; S., Rubini
SIMS RSFs in silicon for positive secondary ions with O2+ 1keV at 63° incidence sputtering beam and Zalar rotation. 1-gen-2013 Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Study of Hydroxyapatite / Detonation NanoDiamond Composite Layers 1-gen-2008 T., Hikov; Iacob, Erica; N., Krasteva; D., Fingarova; E., Pecheva; L., Pramatarova
Study of nanoscale structures induced by low energy ion beam 1-gen-2004 Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Bersani, Massimo
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 29
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Autore
  • Bersani, Massimo 25
  • Barozzi, Mario 19
  • Giubertoni, Damiano 17
  • Vanzetti, Lia Emanuela 12
  • Anderle, Mariano 11
  • Demenev, Evgeny 3
  • Fedrizzi, Michele 3
  • Gennaro, Salvatore 2
  • Lui, Alberto 2
  • Pucker, Georg 2
Data di pubblicazione
  • 2010 - 2014 10
  • 2001 - 2009 19
Editore
  • A. Rossi, B. Elsener grafiche Gh... 1
Keyword
  • SIMS 5
  • accreditation 2
  • AFM 2
  • asbestos 2
  • ISO/IEC 17025 2
  • SEM 2
  • XPS 2
  • ALD 1
  • dilute nitrides 1
  • GaAsN 1
Lingua
  • eng 28
Accesso al fulltext
  • no fulltext 29