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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
X-ray studies on optical and structural properties of ZnO nanostructured thin films 1-gen-2006 S., Larcheri; C., Armellini; Rocca, Francesco; A., Kuzmin; R., Kalendarev; G., Dalba; R., Graziola; J., Purans; D., Pailharey; F., Jandard
XAFS study of Ni surroundings in metal induced crystallization of thin film amorphous silicon 1-gen-2008 R., Grisenti; G., Dalba; P., Fornasini; Rocca, Francesco; U. M. K., Koppolu; M. G., Krishna
XAFS study on the local order of Pb in PbO borate glasses 1-gen-2006 G., Dalba; P., Fornasini; R., Grisenti; Rocca, Francesco; N., Afify; M., Affatigato
XANES and EXAFS modelling of configurational disorder in silver borate glasses 1-gen-2005 G., Dalba; P., Fornasini; A., Kuzmin; F., Monti; A., Sanson; O., Sipr; Rocca, Francesco
XPS and SIMS Depth Profiling of Chlorine in High-Temperature Oxynitrides 1-gen-2002 Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Iacob, Erica; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; R., Zonca; B., Crivelli; C., Carpanese; F., Zanderigo
XPS and SIMS Depth Profiling of Oxynitrides 1-gen-2000 Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano
XPS and SIMS investigation on the role of Nitrogen in Si nanocrystals formation 1-gen-2005 Mulloni, Viviana; Bellutti, Pierluigi; Vanzetti, Lia Emanuela
XPS and UPS investigation of the diamond surface oxidation by UV irradiation 1-gen-2009 Torrengo, Simona; Minati, Luca; Filippi, Massimiliano; A., Miotello; Ferrari, Maurizio; Chiasera, Alessandro; E., Vittone; A., Pasquarelli; M., Dipalo; E., Kohn; Speranza, Giorgio
XRD and EXAFS studies of HfO2 crystallisation in SiO2-HfO2 films 1-gen-2006 N. D., Afify; G., Dalba; U. M. K., Koppolu; C., Armellini; Jestin, Yoann; Rocca, Francesco
XRD and EXAFS studies on the structure of Er3+-doped SiO2-HfO2 glass-ceramic waveguides: Er3+-activated HfO2 nanocrystals 1-gen-2009 N. D., Afify; G., Dalba; Rocca, Francesco
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Tipologia
  • 1 Contributo su Rivista 1658
  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 1658
Autore
  • Dalla Betta, Gian Franco 86
  • Boscardin, Maurizio 82
  • Piemonte, Claudio 80
  • Bersani, Massimo 76
  • Zorzi, Nicola 76
  • Anderle, Mariano 61
  • Dalla Serra, Mauro 49
  • Speranza, Giorgio 48
  • Giubertoni, Damiano 44
  • Bonaldi, Michele 40
Data di pubblicazione
  • 2009 249
  • 2008 221
  • 2007 219
  • 2006 229
  • 2005 195
  • 2004 159
  • 2003 100
  • 2002 101
  • 2001 87
  • 2000 98
Editore
  • Elsevier 206
  • IEEE 44
  • American Institute of Physics 26
  • Wiley 26
  • Springer 22
  • IOP Publishing 9
  • Società Studi Trentini 8
  • ACS Publications 6
  • AVS 6
  • Cinit- Cineforum Italiano 5
Rivista
  • NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 88
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 32
  • APPLIED PHYSICS LETTERS 31
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 27
  • PHYSICAL REVIEW LETTERS 25
  • APPLIED SURFACE SCIENCE 21
  • NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 21
  • PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MAT... 21
  • JOURNAL OF NON-CRYSTALLINE SOLIDS 20
  • DIAMOND AND RELATED MATERIALS 18
Keyword
  • Humans 36
  • Models 28
  • silicon 26
  • electrical characterization 20
  • SIMS 20
  • diffusion 19
  • fabrication technology 19
  • 3D detectors 18
  • silicon detectors 18
  • annealing 16
Lingua
  • eng 1309
  • ita 186
  • ger 6
  • fre 5
  • iba 1
Accesso al fulltext
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