Nd-doped TiO2 thin film investigation using Auger electron Spectroscopy / V. Micheli ; R. Pandiyan; G. Gottardi; R. Bartali; N. Laidani. - (2012). ((Intervento presentato al convegno E-MRS 2012 spring meeting tenutosi a Strasburgo (F) nel 14-18 Maggio 2012.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte di FBK.
Titolo: | Nd-doped TiO2 thin film investigation using Auger electron Spectroscopy |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2012 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11582/151602 |
Appare nelle tipologie: | 4.3 Poster |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.