Canteri, Roberto

Canteri, Roberto  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A Comparison between Zero and Seven Degree of Tilt Implantation of As+, P+ and BF2+ 1-gen-1990 C., Bresolin; C., Zaccherini; Anderle, Mariano; Canteri, Roberto
Acquisizione per immagine nella spettrometria di massa di ioni secondari 1-gen-1991 Canteri, Roberto
Adhesion of Staphylococcus Epidermidis to polymer surfaces 1-gen-2001 G. Gottardi; M. Anderle; R. Canteri; E. Carli; M.-L. Grosello; A. Lui; D. Maniglio; L. Pasquardini; C. Pederzolli; C. Della Volpe ; S. Siboni; G. Speranza
Ambient Gas Induced SiC-like Structures in Edge-Defined Film-Fed Growth Polycrystalline Silicon Samples 1-gen-1991 B., Pivac; A., Borghesi; Canteri, Roberto; Anderle, Mariano
Ambient gas-induced SiC-like structures in edge-defined film-fed grown polycrystalline silicon samples 1-gen-1991 Pivac, B.; Borghesi, A.; Canteri, R.; Anderle, M.
Amorphous nitrogenated carbon films: Structural modifications induced by thermal annealing 1-gen-1994 Freire, F. L. J. r.; C. A., Achete; Gino, Mariotto; Canteri, Roberto
Anomalous Diffusion of Fluorine in Silicon 1-gen-1992 S. P., Jeng; T., Ma; Anderle, Mariano; Gary Wayne, Rubloff; Canteri, Roberto
Assessment of a FOUP Conditioning Equipment for Advanced Semiconductor Application 1-gen-2012 M., Otto; S., Rioufrays; A., Favre; A., Leibold; R., Altmann; Gennaro, Salvatore; Dell'Anna, Rossana; Canteri, Roberto; L., Pfitzner
Atomic layer deposition of palladium coated TiO2/Si nanopillars: ToF-SIMS, AES and XPS characterization study 1-gen-2021 Iatsunskyi, I.; Gottardi, G.; Micheli, V.; Canteri, R.; Coy, E.; Bechelany, M.
BF2 Ion Implantation in Silicon: Effects of the In-Flight Ion Dissociation 1-gen-1988 Giuseppe, Queirolo; C., Bresolin; L., Meda; Anderle, Mariano; Canteri, Roberto
BF2+ Ion implantation in silicon 1-gen-1988 Queirolo, G.; Bresolin, C.; Meda, L.; Anderle, M.; Canteri, R.
Biofunctional surfaces: A key step for biosensing and medical implants applications 1-gen-2006 Pederzolli, Cecilia; Lunelli, Lorenzo; Pasquardini, Laura; Forti, Stefania; Vinante, Michele; Canteri, Roberto; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano
Boron and Antimony Codiffusion in Silicon 1-gen-1991 Margesin, Benno; Canteri, Roberto; Sandro, Solmi; A., Armigliato; F., Baruffaldi
Boron Ion Implantation through Mo and Mo Silicide Layers for Shallow Junction Formation 1-gen-1991 R., Angelucci; Sandro, Solmi; A., Armigliato; S., Guerri; M., Merli; A., Poggi; Canteri, Roberto
Cellular remains in a ~3.42-billion-year-old subseafloor hydrothermal environment 1-gen-2021 Cavalazzi, Barbara; Lemelle, Laurence; Simionovici, Alexandre; Cady, Sherry L.; Russell, Michael J.; Bailo, Elena; Canteri, Roberto; Enrico, Emanuele; Manceau, Alain; Maris, Assimo; Salomé, Murielle; Thomassot, Emilie; Bouden, Nordine; Tucoulou, Rémi; Hofmann, Axel
Characterisation of perfluoropolyether-urethane coatings by TOF-SIMS and XPS 1-gen-2000 Canteri, Roberto; Speranza, Giorgio; Anderle, Mariano; S., Turri; S., Radice; T., Trombetta
Characterization of Functional Films on Solid Substrates by Tof-Sims 1-gen-1998 Canteri, Roberto; Malacarne, Carla; A., Rigo; F., Vianello; L., Zennaro; M., Scarpa; Anderle, Mariano
Chemical characterization of Taq DNA polymerase adsorption on different surfaces 1-gen-2007 Canteri, Roberto; Dell'Anna, Rossana; Forti, Stefania; Lunelli, Lorenzo; Pasquardini, Laura; Pederzolli, Cecilia; Potrich, Cristina; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Diego, Vozzi; Cristina, Zadro; Paolo, Gasparini
Codiffusion of arsenic and boron implanted in silicon 1-gen-1995 S., Solmi; S., Valmorri; Canteri, Roberto
Codiffusion of arsenic and boron implanted in silicon 1-gen-1995 Sandro, Solmi; S., Valmorri; Canteri, Roberto