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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
X-Ray and UV Valence Band Photoemission of Carbon Films 1-gen-1998 Calliari, Lucia; Bensaada Laidani, Nadhira; Speranza, Giorgio
X-Ray detected magnetic hysteresis of a thermally evaporated film of oriented TbPc2 1-gen-2010 L., Margheriti; D., Chiappe; M., Mannini; P. E., Car; F., Buatier de Mongeot; J., Criginski Cezar; Piras, Federica Maria; A., Magnani; A., Caneschi; R., Sessoli
X-ray diffraction study of P-doped polycrystalline Si thin films used in ULSI devices 1-gen-1992 Diego, Bisero; Dapor, Maurizio; Margesin, Benno
X-ray excited optical luminescence detection by scanning near-field optical microscope: A new tool for nanoscience 1-gen-2008 S., Larcheri; Rocca, Francesco; F., Jandard; D., Pailharey; R., Graziola; A., Kuzmin; J., Purans
X-Ray multilayers for diffractometers, monochromators, and spectrometers 1-gen-1988 F., Schaefers; M., Grioni; J., Wood; H., van Brug; E., Puik; Dapor, Maurizio; Fabio, Marchetti
X-ray photoelectron spectroscopy of Er3+ activated silica-hafnia waweguides 1-gen-2007 Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann; Chiasera, Alessandro
X-ray Photoelectron Spectroscopy of Er3+ -Activated Silica-Hafnia Waveguides 1-gen-2006 Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Jestin, Yoann; Ferrari, Maurizio
X-ray photoelectron spectroscopy of Er3+-activated SiO2–HfO2 glass-ceramic waveguides 1-gen-2009 Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Micheli, Victor; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann
X-ray Photoelectron Spectroscopy of Nitrided Silicon-Silicon Oxide Interface 1-gen-2002 Vanzetti, Lia Emanuela; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano
X-ray photoelectron spectroscopy of SiO2-HfO2 amorphous and glass-ceramic waveguides: a comparative study 1-gen-2009 Minati, Luca; Speranza, Giorgio; Torrengo, Simona; G., Alombert Goget; Ferrari, Maurizio; Jestin, Yoann; G. C., Righini
X-ray photoemission study of Pr3+ in zinc borate glasses 1-gen-1999 Speranza, Giorgio; Mariano, Ferrari; M., Bettinelli
X-ray reflectivity study of the early stages of a-C:H film growth 1-gen-2005 Calliari, Lucia; Baranov, Alexandr; S. S., Franchenko; A., Nefedov; A., Varfolomeev
X-Ray Silicon Drift Detector – CMOS Front-End System with High Energy Resolution at Room Temperature 1-gen-2016 Bertuccio, G.; Ahangarianabhari, M.; Graziani, C.; Macera, D.; Shi, Y.; Gandola, M.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Vacchi, A.; Zampa, G.; Zampa, N.; Bellutti, Pierluigi; Giacomini, Gabriele; Picciotto, Antonino; Piemonte, Claudio; Zorzi, Nicola
X-ray spectroscopic performance of a matrix of silicon drift diodes 1-gen-2013 A., Rachevski; G., Zampa; N., Zampa; Rachevskaia, Irina; A., Vacchi; Giacomini, Gabriele; Picciotto, Antonino; A., Cicuttin; M. L., Crespo; C., Tuniz
X-ray studies on optical and structural properties of ZnO nanostructured thin films 1-gen-2006 S., Larcheri; C., Armellini; Rocca, Francesco; A., Kuzmin; R., Kalendarev; G., Dalba; R., Graziola; J., Purans; D., Pailharey; F., Jandard
X-ray visualization of polymer-based implants with osseointegrating coatings 1-gen-2013 Tessarolo, Francesco; Miori, G.; Pace, N.; Zappini, G.; Nollo, Giandomenico; Recla, M.; Valentini, A.
The X/Gamma-ray Imaging Spectrometer (XGIS) on-board THESEUS: design, main characteristics, and concept of operation 1-gen-2020 Labanti, Claudio; Amati, Lorenzo; Frontera, Filippo; Mereghetti, Sandro; Gasent-Blesa, José Luis; Tenzer, Christoph; Orleanski, Piotr; Kuvvetli, Irfan; Campana, Riccardo; Fuschino, Fabio; Terenzi, Luca; Virgilli, Enrico; Morgante, Gianluca; Orlandini, Mauro; Butler, Reginald C.; Stephen, John B.; Auricchio, Natalia; De Rosa, Adriano; Da Ronco, Vanni; Evangelisti, Federico; Melchiorri, Michele; Squerzanti, Stefano; Fiorini, Mauro; Bertuccio, Giuseppe; Mele, Filippo; Gandola, Massimo; Malcovati, Piero; Grassi, Marco; Bellutti, Pierluigi; Borghi, Giacomo; Ficorella, Francesco; Picciotto, Antonino; Zanini, Vittorio; Zorzi, Nicola; Demenev, Evgeny; Rashevskaya, Irina; Rachevski, Alexander; Zampa, Gianluigi; Vacchi, Andrea; Zampa, Nicola; Baldazzi, Giuseppe; La Rosa, Giovanni; Sottile, Giuseppe; Volpe, Angela; Winkler, Marek; Reglero, Victor; Connell, Paul H.; Pinazo-Herrero, Benjamin; Navarro-González, Javier; Rodríguez-Martínez, Pedro; Castro-Tirado, Alberto J.; Santangelo, Andrea; Hedderman, Paul; Lorenzi, Paolo; Sarra, Paolo; Pedersen, Søren M.; Tcherniak, Denis; Guidorzi, Cristiano; Rosati, Piero; Trois, Alessio; Piazzolla, Raffaele
The XAFS fluorescence detector system based on 64 silicon drift detectors for the SESAME synchrotron light source 1-gen-2019 Rachevski, A.; Ahangarianabhari, M.; Aquilanti, G.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Borghi, G.; Bufon, J.; Cautero, G.; Ciano, S.; Cicuttin, A.; Cirrincione, D.; Crespo, M. L.; Fabiani, S.; Ficorella, F.; Gandola, M.; Giuressi, D.; Mannatunga, K. S.; Mele, F.; Menk, R. H.; Olivi, L.; Orzan, G.; Picciotto, A.; Rashevskaya, I.; Sammartini, M.; Schillani, S.; Zampa, G.; Zampa, N.; Zorzi, N.; Vacchi, A.
Xafs Spectroscopy and Glass Structure 1-gen-2015 Dalba, Giuseppe; Rocca, Francesco
XAFS study of Ni surroundings in metal induced crystallization of thin film amorphous silicon 1-gen-2008 R., Grisenti; G., Dalba; P., Fornasini; Rocca, Francesco; U. M. K., Koppolu; M. G., Krishna
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