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Bulk radiation damage induced in thin epitaxial silicon detectors by 24 GeV protons
2005-01-01 V., Khomenkov; D., Bisello; Boscardin, Maurizio; M., Bruzzi; A., Candelori; Dalla Betta, Gian Franco; A., Litovchenko; Piemonte, Claudio; R., Rando; F., Ravotti; Zorzi, Nicola
Complementary metrology within a European joint laboratory
2009-01-01 A., Nutsch; B., Beckhoff; R., Altmann; Jaap van den, Berg; Giubertoni, Damiano; P., Hoenicke; Bersani, Massimo; A., Leibold; Meirer, Florian; M., Mueller; Pepponi, Giancarlo; M., Otto; P., Petrik; M., Reading; L., Pfitzner; H., Ryssel
Highly sensitive detection of inorganic contamination
2009-01-01 B., Beckhoff; A., Nutsch; R., Altmann; G., Borionetti; C., Pello; M. L., Polignano; D., Codegoni; S., Grasso; E., Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; M., Kolbe; M., Mueller; P., Kregsamer; F., Posch
New evidences about carbon and oxygen segregation processes in polycrystalline silicon
1993-01-01 Binetti, S.; Ferrari, S.; Acciarri, M.; Acerboni, S.; Canteri, R.; Pizzini, S.
Synthesis improvement of Yb3+-activated SnO2 nanocrystals.
2007-01-01 E., Callone; G., Carturan; Jestin, Yoann; M., Ferrari
TXRF analysis of low Z elements and TXRF-NEXAFS speciation of organic contaminants on silicon wafer surfaces excited by monochromatized undulator radiation;
2003-01-01 Burkhard, Beckhoff; Rolf, Fliegauf; Gerhard, Ulm; Jan, Weser; Pepponi, Giancarlo; Christina, Streli; Peter, Wobrauschek; Thomas, Ehmann; Laszlo, Fabry; Siegfried, Pahlke; Birgid, Kanngiesser; Wolfgang, Malzer
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Bulk radiation damage induced in thin epitaxial silicon detectors by 24 GeV protons | 1-gen-2005 | V., Khomenkov; D., Bisello; Boscardin, Maurizio; M., Bruzzi; A., Candelori; Dalla Betta, Gian Franco; A., Litovchenko; Piemonte, Claudio; R., Rando; F., Ravotti; Zorzi, Nicola | |
| Complementary metrology within a European joint laboratory | 1-gen-2009 | A., Nutsch; B., Beckhoff; R., Altmann; Jaap van den, Berg; Giubertoni, Damiano; P., Hoenicke; Bersani, Massimo; A., Leibold; Meirer, Florian; M., Mueller; Pepponi, Giancarlo; M., Otto; P., Petrik; M., Reading; L., Pfitzner; H., Ryssel | |
| Highly sensitive detection of inorganic contamination | 1-gen-2009 | B., Beckhoff; A., Nutsch; R., Altmann; G., Borionetti; C., Pello; M. L., Polignano; D., Codegoni; S., Grasso; E., Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; M., Kolbe; M., Mueller; P., Kregsamer; F., Posch | |
| New evidences about carbon and oxygen segregation processes in polycrystalline silicon | 1-gen-1993 | Binetti, S.; Ferrari, S.; Acciarri, M.; Acerboni, S.; Canteri, R.; Pizzini, S. | |
| Synthesis improvement of Yb3+-activated SnO2 nanocrystals. | 1-gen-2007 | E., Callone; G., Carturan; Jestin, Yoann; M., Ferrari | |
| TXRF analysis of low Z elements and TXRF-NEXAFS speciation of organic contaminants on silicon wafer surfaces excited by monochromatized undulator radiation; | 1-gen-2003 | Burkhard, Beckhoff; Rolf, Fliegauf; Gerhard, Ulm; Jan, Weser; Pepponi, Giancarlo; Christina, Streli; Peter, Wobrauschek; Thomas, Ehmann; Laszlo, Fabry; Siegfried, Pahlke; Birgid, Kanngiesser; Wolfgang, Malzer |
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