Sfoglia per Rivista  

opzioni
Vai a: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

Mostrati risultati da 2 a 7 di 7
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Bulk radiation damage induced in thin epitaxial silicon detectors by 24 GeV protons 1-gen-2005 V., Khomenkov; D., Bisello; Boscardin, Maurizio; M., Bruzzi; A., Candelori; Dalla Betta, Gian Franco; A., Litovchenko; Piemonte, Claudio; R., Rando; F., Ravotti; Zorzi, Nicola
Complementary metrology within a European joint laboratory 1-gen-2009 A., Nutsch; B., Beckhoff; R., Altmann; Jaap van den, Berg; Giubertoni, Damiano; P., Hoenicke; Bersani, Massimo; A., Leibold; Meirer, Florian; M., Mueller; Pepponi, Giancarlo; M., Otto; P., Petrik; M., Reading; L., Pfitzner; H., Ryssel
Highly sensitive detection of inorganic contamination 1-gen-2009 B., Beckhoff; A., Nutsch; R., Altmann; G., Borionetti; C., Pello; M. L., Polignano; D., Codegoni; S., Grasso; E., Cazzini; Bersani, Massimo; Lazzeri, Paolo; Gennaro, Salvatore; M., Kolbe; M., Mueller; P., Kregsamer; F., Posch
New evidences about carbon and oxygen segregation processes in polycrystalline silicon 1-gen-1993 Binetti, S.; Ferrari, S.; Acciarri, M.; Acerboni, S.; Canteri, R.; Pizzini, S.
Synthesis improvement of Yb3+-activated SnO2 nanocrystals. 1-gen-2007 E., Callone; G., Carturan; Jestin, Yoann; M., Ferrari
TXRF analysis of low Z elements and TXRF-NEXAFS speciation of organic contaminants on silicon wafer surfaces excited by monochromatized undulator radiation; 1-gen-2003 Burkhard, Beckhoff; Rolf, Fliegauf; Gerhard, Ulm; Jan, Weser; Pepponi, Giancarlo; Christina, Streli; Peter, Wobrauschek; Thomas, Ehmann; Laszlo, Fabry; Siegfried, Pahlke; Birgid, Kanngiesser; Wolfgang, Malzer
Mostrati risultati da 2 a 7 di 7
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile