Characterization of large-scale non-uniformities in a 20k TDC/SPAD array integrated in a 130nm CMOS process

Veerappan, C.; Richardson, J.; Walker, R.; D. U., Li; Fishburn, M. W.; Stoppa, David; Borghetti, Fausto; Maruyama, Y.; Gersbach, M.; Henderson, R. K.; Bruschini, C.; Charbon, E.

doi:10.1109/ESSDERC.2011.6044167

Characterization of large-scale non-uniformities in a 20k TDC/SPAD array integrated in a 130nm CMOS process / C. Veerappan; J. Richardson; R. Walker; D. U. Li; M. W. Fishburn; D. Stoppa; F. Borghetti; Y. Maruyama; M. Gersbach; R. K. Henderson; C. Bruschini; E. Charbon. - (2011), pp. 331-334. ((Intervento presentato al convegno Conference on Solid-State Device Research, ESSDERC tenutosi a Helsinki, FINLAND nel 09-12-2011 09-16-2011.

Scheda prodotto non validato

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte di FBK.

Titolo:	Characterization of large-scale non-uniformities in a 20k TDC/SPAD array integrated in a 130nm CMOS process
Autori:	C. Veerappan J. Richardson R. Walker D. U. Li M. W. Fishburn Stoppa, David Borghetti, Fausto Y. Maruyama M. Gersbach R. K. Henderson C. Bruschini E. Charbon mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2011
Handle:	http://hdl.handle.net/11582/50981
ISBN:	9781457707070
Appare nelle tipologie:	4.1 Contributo in Atti di convegno

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11582/50981

Citazioni

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

CINECA IRIS Institutional Research Information System

Scheda prodotto non validato

File in questo prodotto: