Characterization of large-scale non-uniformities in a 20k TDC/SPAD array integrated in a 130nm CMOS process

Veerappan, C.; Richardson, J.; Walker, R.; D. U., Li; Fishburn, M. W.; Stoppa, David; Borghetti, Fausto; Maruyama, Y.; Gersbach, M.; Henderson, R. K.; Bruschini, C.; Charbon, E.

doi:10.1109/ESSDERC.2011.6044167

Characterization of large-scale non-uniformities in a 20k TDC/SPAD array integrated in a 130nm CMOS process / C. Veerappan; J. Richardson; R. Walker; D. U. Li; M. W. Fishburn; D. Stoppa; F. Borghetti; Y. Maruyama; M. Gersbach; R. K. Henderson; C. Bruschini; E. Charbon. - (2011), pp. 331-334. ((Intervento presentato al convegno Conference on Solid-State Device Research, ESSDERC tenutosi a Helsinki, FINLAND nel 09-12-2011 09-16-2011 [10.1109/ESSDERC.2011.6044167].

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Titolo:	Characterization of large-scale non-uniformities in a 20k TDC/SPAD array integrated in a 130nm CMOS process
Autori:	C. Veerappan J. Richardson R. Walker D. U. Li M. W. Fishburn Stoppa, David Borghetti, Fausto Y. Maruyama M. Gersbach R. K. Henderson C. Bruschini E. Charbon mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2011
Handle:	http://hdl.handle.net/11582/50981
ISBN:	9781457707070
Appare nelle tipologie:	4.1 Contributo in Atti di convegno

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