Characterization of large-scale non-uniformities in a 20k TDC/SPAD array integrated in a 130nm CMOS process / C. Veerappan; J. Richardson; R. Walker; D. U. Li; M. W. Fishburn; D. Stoppa; F. Borghetti; Y. Maruyama; M. Gersbach; R. K. Henderson; C. Bruschini; E. Charbon. - (2011), pp. 331-334. ((Intervento presentato al convegno Conference on Solid-State Device Research, ESSDERC tenutosi a Helsinki, FINLAND nel 09-12-2011 09-16-2011.
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Titolo: | Characterization of large-scale non-uniformities in a 20k TDC/SPAD array integrated in a 130nm CMOS process |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2011 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11582/50981 |
ISBN: | 9781457707070 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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