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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Characterization of atmospheric aerosols using SR-TXRF and Fe K-edge TXRF-XANES 1-gen-2008 Ursula, Fittschen; Meirer, Florian; Christina, Streli; Peter, Wobrauschek; Julian, Thiele; Gerald, Falkenberg; Pepponi, Giancarlo
Characterization of the mistura alloy used for Venetian sesino coins: 16th century 1-gen-2019 Martorelli, Damiano; Bortolotti, M.; Lutterotti, L.; Pepponi, G.; Gialanella, S.
Characterization of the morphology of titanium and titanium (IV) oxide nanolayers deposited on different substrates by application of grazing incidence X-ray diffraction and X-ray reflectometry techniques 1-gen-2019 Stabrawa, I.; Kubala-Kukuś, A.; Banaś, D.; Pepponi, G.; Braziewicz, J.; Pajek, M.; Teodorczyk, M.
Characterizing Low-Energy Charged Particles in the Magnetosphere with the LEM CubeSat Spectrometer Project: Detector Concept and Hardware Characterisation 1-gen-2023 Nicolaidis, Riccardo; Nozzoli, Francesco; Pepponi, Giancarlo; Bellutti, Pierluigi; Demenev, Evgeny; Follega, Francesco Maria; Iuppa, Roberto; Vilona, Veronica
Chelate complexed multi-elemental printing performance of a small and cost efficient picoliter droplet printing device for micro preparation 1-gen-2023 Hampel, Sven; Sand, Franziska; Murcia Gonzalez, Diego Andres; Pepponi, Giancarlo; Helsch, Gundula; Deubener, Joachim; Schirmer, Thomas; Fittschen, Andreas; Fittschen, Ursula Elisabeth Adriane
Combined evaluation of grazing incidence X-ray fluorescence and X-ray reflectivity data for improved profiling of ultra-shallow depth distributions 1-gen-2014 D., Ingerle; F., Meirer; Pepponi, Giancarlo; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; P., Wobrauschek; C., Streli
Combining XRD and XRF analysis in one Rietveld-like fitting 1-gen-2017 Bortolotti, M.; Lutterotti, L.; Pepponi, Giancarlo
Comparison of conventional and total reflection excitation geometry for fluorescence X-ray absorption spectroscopy on droplet samples, 1-gen-2003 Gerald, Falkenberg; Pepponi, Giancarlo; Christina, Streli; Peter, Wobrauschek
Comparison of synchrotron radiation total reflection X-ray fluorescence excitation–detection geometries for samples with differing matrices 1-gen-2003 Pepponi, Giancarlo; Christina, Streli; Peter, Wobrauschek; Shokufeh, Zamini; N., Zoger; Gerald, Falkenberg
Complementary metrology within a European joint laboratory 1-gen-2009 A., Nutsch; B., Beckhoff; R., Altmann; Jaap van den, Berg; Giubertoni, Damiano; P., Hoenicke; Bersani, Massimo; A., Leibold; Meirer, Florian; M., Mueller; Pepponi, Giancarlo; M., Otto; P., Petrik; M., Reading; L., Pfitzner; H., Ryssel
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Tipologia
  • 1 Contributo su Rivista 105
  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 105
Autore
  • Meirer, Florian 22
  • Giubertoni, Damiano 20
  • Bersani, Massimo 13
  • Barozzi, Mario 12
  • Bellutti, Pierluigi 11
  • Demenev, Evgeny 9
  • Vanzetti, Lia Emanuela 9
  • Iacob, Erica 8
  • Gennaro, Salvatore 7
  • Dell'Anna, Rossana 5
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 23
  • 2010 - 2019 46
  • 2001 - 2009 36
Editore
  • Elsevier 19
  • Wiley 5
  • ICDD 2
  • Scientific.net 2
  • American Institute of Physics 1
  • C.I.S.B.A. 1
  • Springer 1
  • Springer Netherlands 1
Rivista
  • SPECTROCHIMICA ACTA, PART B: ATOM... 24
  • X-RAY SPECTROMETRY 8
  • APPLIED SURFACE SCIENCE 4
  • NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 4
  • ANALYTICAL AND BIOANALYTICAL CHEM... 3
  • JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 3
  • JOURNAL OF INSTRUMENTATION 3
  • JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHN... 3
  • NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 3
  • POWDER DIFFRACTION 3
Keyword
  • silicon 7
  • annealing 5
  • arsenic 5
  • elemental semiconductors 4
  • EXAFS 4
  • ion implantation 4
  • ultra shallow junctions 4
  • laser annealing 3
  • secondary ion mass spectra 3
  • semiconductor doping 3
Lingua
  • eng 97
  • ita 1
Accesso al fulltext
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