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Trace-element XAFS sensitivity: a stress test for a new XRF multi-detector
2021-01-01 Carlomagno, Ilaria; Antonelli, Matias; Aquilanti, Giuliana; Bellutti, Pierluigi; Bertuccio, Giuseppe; Borghi, Giacomo; Cautero, Giuseppe; Cirrincione, Daniela; de Giudici, Giovanni; Ficorella, Francesco; Gandola, Massimo; Giuressi, Dario; Medas, Daniela; Mele, Filippo; Menk, Ralf H.; Olivi, Luca; Orzan, Giulio; Picciotto, Antonino; Podda, Francesca; Rachevski, Alexandre; Rashevskaya, Irina; Stebel, Luigi; Vacchi, Andrea; Zampa, Gianluigi; Zampa, Nicola; Zorzi, Nicola; Meneghini, Carlo
X-Ray Silicon Drift Detector – CMOS Front-End System with High Energy Resolution at Room Temperature
2016-01-01 Bertuccio, G.; Ahangarianabhari, M.; Graziani, C.; Macera, D.; Shi, Y.; Gandola, M.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Vacchi, A.; Zampa, G.; Zampa, N.; Bellutti, Pierluigi; Giacomini, Gabriele; Picciotto, Antonino; Piemonte, Claudio; Zorzi, Nicola
XRF topography information: Simulations and data from a novel silicon drift detector system
2019-01-01 Kourousias, G.; Billè, F.; Cautero, G.; Bufon, J.; Rachevski, A.; Schillani, S.; Cirrincione, D.; Altissimo, M.; Menk, R. H.; Zampa, G.; Zampa, N.; Rashevskaya, I.; Borghes, R.; Gandola, M.; Picciotto, A.; Borghi, G.; Ficorella, F.; Zorzi, N.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Vacchi, A.; Gianoncelli, A.
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| Trace-element XAFS sensitivity: a stress test for a new XRF multi-detector | 1-gen-2021 | Carlomagno, Ilaria; Antonelli, Matias; Aquilanti, Giuliana; Bellutti, Pierluigi; Bertuccio, Giuseppe; Borghi, Giacomo; Cautero, Giuseppe; Cirrincione, Daniela; de Giudici, Giovanni; Ficorella, Francesco; Gandola, Massimo; Giuressi, Dario; Medas, Daniela; Mele, Filippo; Menk, Ralf H.; Olivi, Luca; Orzan, Giulio; Picciotto, Antonino; Podda, Francesca; Rachevski, Alexandre; Rashevskaya, Irina; Stebel, Luigi; Vacchi, Andrea; Zampa, Gianluigi; Zampa, Nicola; Zorzi, Nicola; Meneghini, Carlo | |
| X-Ray Silicon Drift Detector – CMOS Front-End System with High Energy Resolution at Room Temperature | 1-gen-2016 | Bertuccio, G.; Ahangarianabhari, M.; Graziani, C.; Macera, D.; Shi, Y.; Gandola, M.; Rachevski, A.; Rashevskaya, I.; Vacchi, A.; Zampa, G.; Zampa, N.; Bellutti, Pierluigi; Giacomini, Gabriele; Picciotto, Antonino; Piemonte, Claudio; Zorzi, Nicola | |
| XRF topography information: Simulations and data from a novel silicon drift detector system | 1-gen-2019 | Kourousias, G.; Billè, F.; Cautero, G.; Bufon, J.; Rachevski, A.; Schillani, S.; Cirrincione, D.; Altissimo, M.; Menk, R. H.; Zampa, G.; Zampa, N.; Rashevskaya, I.; Borghes, R.; Gandola, M.; Picciotto, A.; Borghi, G.; Ficorella, F.; Zorzi, N.; Bellutti, P.; Bertuccio, G.; Vacchi, A.; Gianoncelli, A. |
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