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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Study of radiation damage induced by 24 GeV/c and 26 MeV protons on heavily irradiated MCz and FZ silicon detectors 1-gen-2007 Valeria, Radicci; Laura, Borrello; Boscardin, Maurizio; Mara, Bruzzi; Donato, Creanza; Dalla Betta, Gian Franco; Mauro De, Palma; Ettore, Focardi; Anna, Macchiolo; Norman, Manna; David, Menichelli; Alberto, Messineo; Piemonte, Claudio; Pozza, Alberto; Monica, Scaringella; Gabriele, Segneri; Daniel, Sentenac; Zorzi, Nicola
Study of the internal quantum efficiency of FBK sensors with optimized entrance windows 1-gen-2023 Carulla, M.; Centis Vignali, M.; Barten, R.; Baruffaldi, F.; Bergamaschi, A.; Borghi, G.; Boscardin, M.; Brückner, M.; Dinapoli, R.; Ebner, S.; Ficorella, F.; Fröjd, E.; Greiffenberg, D.; Hammad Ali, O.; Hasanaj, S.; Heymes, J.; Hinger, V.; King, T.; Kozlowski, P.; Lopez Cuenca, C.; Mezza, D.; Moustakas, K.; Mozzanica, A.; Paternoster, G.; Ronchin, S.; Ruder, C.; Schmitt, B.; Thattil, D.; Zhang, J.
Study of the signal formation in single-type column 3D silicon detectors 1-gen-2007 Piemonte, Claudio; Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; Dalla Betta, Gian Franco; Pozza, Alberto; Ronchin, Sabina; Zorzi, Nicola
TCAD optimization of LGAD sensors for extremely high fluence applications 1-gen-2023 Croci, T.; Morozzi, A.; Sola, V.; Asenov, P.; Fondacci, A.; Giordanengo, S.; Borghi, G.; Centis Vignali, M.; Paternoster, G.; Boscardin, M.; Menichelli, M.; Cartiglia, N.; Passeri, D.; Moscatelli, F.
Temperature dependence of the response of ultra fast silicon detectors 1-gen-2016 Mulargia, R.; Arcidiacono, R.; Bellora, A.; Boscardin, Maurizio; Cartiglia, N.; Cenna, F.; Cirio, R.; Betta, G. F. Dalla; Durando, S.; Fadavi, A.; Ferrero, M.; Galloway, Z.; Gruey, B.; Freeman, P.; Kramberger, G.; Mandic, I.; Monaco, V.; Obertino, M.; Pancheri, Lucio; Paternoster, Giovanni; Ravera, F.; Sacchi, R.; Sadrozinski, H. F. W.; Seiden, A.; Sola, V.; Spencer, N.; Staiano, A.; Wilder, M.; Woods, N.; Zatserklyaniy, A.
Test beam characterization of irradiated 3D pixel sensors 1-gen-2020 Alonso, A. García; Currás, E.; Duarte-Campderrós, J.; Fernandez, M.; Gomez, G.; Gonzalez, J.; Silva, E.; Vila, I.; Jaramillo, R.; Meschini, M.; Ceccarelli, R.; Dinardo, M.; Gennai, S.; Moroni, L.; Zuolo, D.; Demaria, N.; Monteil, E.; Gaioni, L.; Messineo, A.; Beta, G. -F. Dalla; Menicino, R.; Boscardin, M.; Hidalgo, S.; Merlos, Á.; Pellegrini, G.; Quirion, D.; Manna, M.
Test beam results of 3D silicon pixel sensors for the ATLAS upgrade 1-gen-2011 P., Grenier; G., Alimonti; M., Barbero; R., Bates; E., Bolle; M., Borri; Boscardin, Maurizio; C., Buttar; M., Capua; M., Cavalli Sforza; M., Cobal; A., Cristofoli; G. F., Dalla Betta; G., Darbo; C., Da Vià; E., Devetak; B., Dewilde; B., Di Girolamo; D., Dobos; K., Einsweiler; D., Esseni; S., Fazio; C., Fleta; J., Freestone; C., Gallrapp; M., Garcia Sciveres; G., Gariano; C., Gemme; M. P., Giordani; H., Gjersdal; S., Grinstein; T., Hansen; T. E., Hansen; P., Hansson; J., Hasi; K., Helle; M., Hoeferkamp; F., Hügging; P., Jackson; K., Jakobs; J., Kalliopuska; M., Karagounis; C., Kenney; M., Köhler; M., Kocian; A., Kok; S., Kolya; I., Korokolov; V., Kostyukhin; H., Krüger; A., La Rosa; C. H., Lai; N., Lietaer; M., Lozano; A., Mastroberardino; A., Micelli; C., Nellist; A., Oja; V., Oshea; C., Padilla; P., Palestri; S., Parker; U., Parzefall; J., Pater; G., Pellegrini; H., Pernegger; Piemonte, Claudio; S., Pospisil; Povoli, Marco; S., Roe; O., Rohne; Ronchin, Sabina; A., Rovani; E., Ruscino; H., Sandaker; S., Seidel; L., Selmi; D., Silverstein; K., Sjøbæk; T., Slavicek; S., Stapnes; B., Stugu; J., Stupak; D., Su; G., Susinno; R., Thompson; J. W., Tsung; D., Tsybychev; S. J., Watts; N., Wermes; C., Young; Zorzi, Nicola
Testbeam and laboratory test results of irradiated 3D CMS pixel detectors 1-gen-2013 Bubna, Mayur; Alagoz, Enver; Cervantes, Mayra; Krzywda, Alex; Arndt, Kirk; Obertino, Margherita; Solano, Ada; Dalla Betta Gian, Franco; Menace, Dario; Moroni, Luigi; Uplegger, Lorenzo; Rivera, Ryan; Osipenkov, Ilya; Andresen, Jeff; Bolla, Gino; Bortoletto, Daniela; Boscardin, Maurizio; Marie Brom, Jean; Brosius, Richard; Chramowicz, John; Cumalat, John; Dinardo, Mauro; Dini, Paolo; Jensen, Frank; Kumar, Ashish; Kwan, Simon; Lei, C. M.; Povoli, Marco; Prosser, Alan; Ngadiuba, Jennifer; Perera, Lalith; Shipsey, Ian; Tan, Ping; Tentindo, Silvia; Terzo, Stefano; Tran, Nhan; Wagner Stephen, R.
Testbeam and laboratory characterization of CMS 3D pixel sensors 1-gen-2014 Bubna, M.; Bortoletto, D.; Alagoz, E.; Krzywda, A.; Arndt, K.; Shipsey, I.; Bolla, G.; Hinton, N.; Kok, A.; Hansen, T. E.; Summanwar, A.; Brom, J. M.; Boscardin, Maurizio; Chramowicz, J.; Cumalat, J.; Dalla Betta, G. F.; Dinardo, M.; Godshalk, A.; Jones, M.; Krohn, M. D.; Kumar, A.; Lei, C. M.; Mendicino, R.; Moroni, L.; Perera, L.; Povoli, M.; Prosser, A.; Rivera, R.; Solano, A.; Obertino, M. M.; Kwan, S.; Uplegger, L.; Wagner, L. Viganiand S.
Testing of planar hydrogenated amorphous silicon sensors with charge selective contacts for the construction of 3D-detectors 1-gen-2022 Menichelli, M.; Bizzarri, M.; Boscardin, M.; Caprai, M.; Caricato, A. P.; Cirrone, G. A. P.; Crivellari, M.; Cupparo, I.; Cuttone, G.; Dunand, S.; Fanò, L.; Hammad Ali, O.; Ionica, M.; Kanxheri, K.; Large, M.; Maruccio, G.; Monteduro, A. G.; Morozzi, A.; Moscatelli, F.; Papi, A.; Passeri, D.; Petasecca, M.; Petringa, G.; Quarta, G.; Rizzato, S.; Rossi, A.; Rossi, G.; Scorzoni, A.; Servoli, L.; Talamonti, C.; Verzellesi, G.; Wyrsch, N.
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Tipologia
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  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 243
Autore
  • Zorzi, Nicola 112
  • Dalla Betta, Gian Franco 94
  • Ronchin, Sabina 76
  • Piemonte, Claudio 68
  • Paternoster, Giovanni 37
  • Ficorella, Francesco 36
  • Giacomini, Gabriele 29
  • Borghi, Giacomo 26
  • Gregori, Paolo 24
  • Mendicino, Roberto 24
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 49
  • 2010 - 2019 101
  • 2000 - 2009 82
  • 1992 - 1999 11
Editore
  • Elsevier 55
  • IEEE 11
  • Associazione Elettrotecnica ed El... 2
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  • North-Holland 1
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Rivista
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Keyword
  • fabrication technology 22
  • 3D detectors 21
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Accesso al fulltext
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