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Optimization of secondary ion mass spectrometry ultra-shallow boron profiles using an oblique incidence O2+ beam
2004-01-01 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
P implantation into preamorphized germanium and subsequent annealing: Solid phase epitaxial regrowth, P diffusion, and activation
2008-01-01 Mathias, Posselt; B., Schmidt; W., Anwand; R., Grötzschel; V., Heera; A., Mücklich; C., Wündisch; W., Skorupa; H., Hortenbach; Gennaro, Salvatore; Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; A., Möller; H., Bracht
Point defect engineering study of phosphorus ion implanted germanium
2014-01-01 M. A., Razali; Secchi, Maria; Bersani, Massimo; R. M., Gwilliam
Pollen discrimination and classification by Fourier transform infrared (FT-IR) microspectroscopy and machine learning
2009-01-01 Dell'Anna, Rossana; Paolo, Lazzeri; Mattia, Frisanco; Francesca, Monti; Flaminia Malvezzi, Campeggi; Elena, Gottardini; Bersani, Massimo
Polyethylene wax/EPDM blends as shape-stabilized phase change materials for thermal energy storage
2017-01-01 Dorigato, Alessandro; Ciampolillo, Maria Vittoria; Cataldi, A.; Bersani, M.; Pegoretti, A.
Preface for Proceedings of SIMS XVIII, Riva del Garda, Italy, 2011
2013-01-01 E., Napolitani; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; A., Licciardello
Production and characterization of novel EPDM/NBR panels with paraffin for potential thermal energy storage applications
2022-01-01 Valentini, Francesco; Dorigato, Andrea; Fambri, Luca; Bersani, Massimo; Grigiante, Maurizio; Pegoretti, Alessandro
Quality management system and accreditation of measurements in a surface science laboratory: the case study of MiNALab
2014-01-01 Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Gennaro, S.; Pecoraro, F.; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Bortolotti, M.; Pepponi, Giancarlo; Fedrizzi, Michele; Bersani, Massimo
Quantitative depth profiling of boron and arsenic ultra low energy implants by pulsed rf-GD-ToFMS
2011-01-01 Lara, Lobo; Beatriz, Fernandez; Rosario, Pereiro; Nerea, Bordel; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Philipp, Hoenicke; Burkhard, Beckhoff; A., Sanz Medel
Quantitative determination of the dopant distribution in Si ultra shallow junctions by tilted sample annular dark field scanning transmission electron microscopy
2008-01-01 A., Parisini; Vittorio, Morandi; Sandro, Solmi; Pier Giorgio, Merli; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Jaap van den, Berg
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Optimization of secondary ion mass spectrometry ultra-shallow boron profiles using an oblique incidence O2+ beam | 1-gen-2004 | Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo | |
P implantation into preamorphized germanium and subsequent annealing: Solid phase epitaxial regrowth, P diffusion, and activation | 1-gen-2008 | Mathias, Posselt; B., Schmidt; W., Anwand; R., Grötzschel; V., Heera; A., Mücklich; C., Wündisch; W., Skorupa; H., Hortenbach; Gennaro, Salvatore; Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; A., Möller; H., Bracht | |
Point defect engineering study of phosphorus ion implanted germanium | 1-gen-2014 | M. A., Razali; Secchi, Maria; Bersani, Massimo; R. M., Gwilliam | |
Pollen discrimination and classification by Fourier transform infrared (FT-IR) microspectroscopy and machine learning | 1-gen-2009 | Dell'Anna, Rossana; Paolo, Lazzeri; Mattia, Frisanco; Francesca, Monti; Flaminia Malvezzi, Campeggi; Elena, Gottardini; Bersani, Massimo | |
Polyethylene wax/EPDM blends as shape-stabilized phase change materials for thermal energy storage | 1-gen-2017 | Dorigato, Alessandro; Ciampolillo, Maria Vittoria; Cataldi, A.; Bersani, M.; Pegoretti, A. | |
Preface for Proceedings of SIMS XVIII, Riva del Garda, Italy, 2011 | 1-gen-2013 | E., Napolitani; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano; A., Licciardello | |
Production and characterization of novel EPDM/NBR panels with paraffin for potential thermal energy storage applications | 1-gen-2022 | Valentini, Francesco; Dorigato, Andrea; Fambri, Luca; Bersani, Massimo; Grigiante, Maurizio; Pegoretti, Alessandro | |
Quality management system and accreditation of measurements in a surface science laboratory: the case study of MiNALab | 1-gen-2014 | Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Gennaro, S.; Pecoraro, F.; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Bortolotti, M.; Pepponi, Giancarlo; Fedrizzi, Michele; Bersani, Massimo | |
Quantitative depth profiling of boron and arsenic ultra low energy implants by pulsed rf-GD-ToFMS | 1-gen-2011 | Lara, Lobo; Beatriz, Fernandez; Rosario, Pereiro; Nerea, Bordel; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Philipp, Hoenicke; Burkhard, Beckhoff; A., Sanz Medel | |
Quantitative determination of the dopant distribution in Si ultra shallow junctions by tilted sample annular dark field scanning transmission electron microscopy | 1-gen-2008 | A., Parisini; Vittorio, Morandi; Sandro, Solmi; Pier Giorgio, Merli; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo; Jaap van den, Berg |
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