Characterization and modeling of charging effects in dielectrics for the actuation of RF MEMS ohmic series and capacitive shunt switches

	Anno
	
				2012
			
	Codice ISBN
	
				978-953-51-0306-6
			
	Appare nelle tipologie:
	
				2.1 Contributo in volume (Capitolo o Saggio)

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11582/202420

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