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Tof-SIMS Analyses on Contamination induced by Plasma Etching of Silicon Oxide
1999-01-01 F., Zanderigo; G., Queirolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Ferrari, Sara; A., Losavio
Analisi delle Procedure di vendita dei lotti boschivi da parte dei proprietari pubblici nella Provincia di Trnto mediante tecniche di ingegneria dei requisiti
2005-01-01 Bresciani, Paolo; Ferrari, Sara; Sannicolò, Fabrizio
Analisi del Sistema Forestale mediante tecniche di ingegneria dei requisiti orientate all'analisi degli obiettivi
2005-01-01 Bresciani, Paolo; Ferrari, Sara; Sannicolò, Fabrizio
Advances in 3D Sensor Technology by Using Stepper Lithography
2021-01-01 Boscardin, Maurizio; Ferrari, Sara; Ficorella, Francesco; Lai, Adriano; Mendicino, Roberto; Meschini, Marco; Ronchin, Sabina; Arif Abdulla Samy, Md.; Dalla Betta, Gian-Franco
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Tof-SIMS Analyses on Contamination induced by Plasma Etching of Silicon Oxide | 1-gen-1999 | F., Zanderigo; G., Queirolo; Vanzetti, Lia Emanuela; Ferrari, Sara; A., Losavio | |
Analisi delle Procedure di vendita dei lotti boschivi da parte dei proprietari pubblici nella Provincia di Trnto mediante tecniche di ingegneria dei requisiti | 1-gen-2005 | Bresciani, Paolo; Ferrari, Sara; Sannicolò, Fabrizio | |
Analisi del Sistema Forestale mediante tecniche di ingegneria dei requisiti orientate all'analisi degli obiettivi | 1-gen-2005 | Bresciani, Paolo; Ferrari, Sara; Sannicolò, Fabrizio | |
Advances in 3D Sensor Technology by Using Stepper Lithography | 1-gen-2021 | Boscardin, Maurizio; Ferrari, Sara; Ficorella, Francesco; Lai, Adriano; Mendicino, Roberto; Meschini, Marco; Ronchin, Sabina; Arif Abdulla Samy, Md.; Dalla Betta, Gian-Franco |
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