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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A comparison between mass spectrometry techniques on oxynitrides 1-gen-1998 Bersani, Massimo; M., Sbetti; Anderle, Mariano
A Study of Physical properties of Vanadium Oxyde-based Gas Sensors 1-gen-1998 R., Rella; P., Siciliano; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; A., Cricenti; R., Generosi; C., Coluzza
Arsenic Shallow Implant Characterization by Magnetic Sector and TOF-SIMS Instruments 1-gen-2002 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
As ultra shallow depth profiling: comparison between SIMS and MEIS techniques 1-gen-2004 Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo; J. A., van den Berg; M., Werner
Caratterizzazione SIMS ToF-SIMS e XPS di Ossidonitruri 1-gen-1998 M., Sbetti; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Anderle, Mariano
Carbon thin films deposited on Si and PET: study of interface states 1-gen-2004 S., Mariazzi; C., Macchi; G. P., Karwasz; A., Zecca; R. S., Brusa; Bensaada Laidani, Nadhira; Bartali, Ruben; Gottardi, Gloria; Anderle, Mariano
Chemical and morphological characterization of nanoporous silica low-k dielectrics etched in fluorocarbon plasmas 1-gen-2004 Lazzeri, Paolo; Anderle, Mariano; X., Hua; Iacob, Erica; C. K., Inoki; P., Jiang; T. S., Kuan; G. S., Oehrlein
D-Sims and TOF-SIMS quantitative depth profiles on ultra thin oxinitrides 1-gen-2001 Bersani, Massimo; Giubertoni, Damiano; Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; P., Lazzeri; B., Crivelli; F., Zanderigo
Development of liposome-based drug coatings for the treatment of staphylococcal infections 1-gen-2004 Pasquardini, Laura; Lunelli, Lorenzo; Pederzolli, Cecilia; Speranza, Giorgio; Vinante, Michele; P., Villani; Canteri, Roberto; Anderle, Mariano
Dopant Redistribution Analysis in RiSi2/Si Systems by SIMS 1-gen-1998 M., Sbetti; Bersani, Massimo; Fedrizzi, Michele; S. a., Beccara; Anderle, Mariano
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Tipologia
  • 5 Altro 28
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Autore
  • Bersani, Massimo 14
  • Iacob, Erica 11
  • Giubertoni, Damiano 9
  • Vanzetti, Lia Emanuela 9
  • Barozzi, Mario 8
  • Lazzeri, Paolo 6
  • Speranza, Giorgio 5
  • Bensaada Laidani, Nadhira 4
  • Pederzolli, Cecilia 4
  • Canteri, Roberto 3
Data di pubblicazione
  • 2000 - 2010 24
  • 1998 - 1999 4
Keyword
  • ion implantation 2
  • silicon 2
  • SIMS 2
  • arsenic 1
  • BIOSUPERFICI 1
  • boron 1
  • characterization 1
  • MEIS 1
  • solid phase epitaxial regrowth 1
  • synchrotron radiation GIXRF 1
Lingua
  • eng 27
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 28