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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Characterization of Radiation Damage Effects of Protons and X-rays in FBK Silicon Photomultipliers 1-gen-2022 Acerbi, F.; DI RUZZA, B.; Altamura, A. R.; Merzi, S.; Gola, A.
Characterization of RTP Oxynitrides by SIMS and XPS Analyses 1-gen-1998 Bersani, Massimo; Vanzetti, Lia Emanuela; M., Sbetti; Anderle, Mariano
Characterization of Silicon Anisotropic TMAH Etch for Bulk Micromachining 1-gen-1998 Sebastiano, Brida; Guarnieri, Vittorio; Giacomozzi, Flavio; Margesin, Benno; Zen, Mario
Characterization of Single-Photon Avalanche Diode arrays in 150nm CMOS technology2015 XVIII AISEM Annual Conference 1-gen-2015 Xu, Hesong; Leo H. C., Braga; Stoppa, David; Lucio, Pancheri
Characterization of single-photon avalanche photodiodes in CMOS 150nm technology 1-gen-2014 Xu, Hesong; Pancheri, Lucio; Leo H. C., Braga; Stoppa, David
Characterization of Surface and Bulk Properties of 3D Sensors after Heavy Irradiation 1-gen-2014 Bubna, M.; Bortoletto, D.; Dalla Betta, Gian Franco; Povoli, Marco; Mendicino, R.; Bolla, G.; Arndt, K.; Shipsey, I. P.; Boscardin, Maurizio; Giacomini, Gabriele; Mattedi, Francesca; Zorzi, Nicola
Characterization of the VEGA ASIC dedicated to large area position-sensitive SDDs for space and medical applications 1-gen-2013 F., Fuschino; R., Campana; Y., Evangelista; M., Ahangarianabhari; L., Andreani; M., Grassi; G., Bertuccio; P., Malcovati; Y., Favre; M., Zuffa; G., Baldazzi; E., Del Monte; M., Feroci; C., Labanti; M., Marisaldi; F., Muleri; A., Rachevski; Rachevskaia, Irina; A., Vacchi; G., Zampa; N., Zampa; Piemonte, Claudio; Giacomini, Gabriele; Picciotto, Antonino; Boscardin, Maurizio
Characterization of TMAH Silicon Etchant Using Ammomium Persulfate as an Oxidizing Agent 1-gen-1998 M., Paranjape; Sebastiano, Brida; Guarnieri, Vittorio; Giacomozzi, Flavio; Zen, Mario
Characterization of TMAH Silicon Etchant Using Ammonium Persulfate as an Oxidizing Agent 1-gen-1999 Sebastiano, Brida; Guarnieri, Vittorio; M., Pranjape; Giacomozzi, Flavio; Zen, Mario
Characterization of trace metal contaminants on Si by laser-SNMS 1-gen-1999 L., Moro; Lazzeri, Paolo; K. J., Wu
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  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 7921
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  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 339
Autore
  • Cimatti, Alessandro 262
  • Remondino, Fabio 252
  • Lorenzelli, Leandro 232
  • Margesin, Benno 208
  • Serafini, Luciano 205
  • Negri, Matteo 203
  • Nollo, Giandomenico 194
  • Bovolo, Francesca 185
  • Magnini, Bernardo 177
  • Zancanaro, Massimo 177
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 5
  • 2020 - 2026 1785
  • 2010 - 2019 3908
  • 2000 - 2009 2457
  • 1990 - 1999 567
  • 1980 - 1989 49
Editore
  • IEEE 625
  • Springer 359
  • ACM 154
  • Association for Computational Lin... 92
  • CEUR-WS.org 78
  • IEEE Computer Society 61
  • SPIE 60
  • ACL 38
  • AAAI Press 37
  • ieee 31
Rivista
  • INTERNATIONAL ARCHIVES OF THE PHO... 92
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  • PROCEEDINGS 23
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  • JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SE... 21
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Serie
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  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 22
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  • LECTURE NOTES IN ELECTRICAL ENGIN... 17
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