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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Characterization of large-scale non-uniformities in a 20k TDC/SPAD array integrated in a 130nm CMOS process 1-gen-2011 C., Veerappan; J., Richardson; R., Walker; D. U., Li; M. W., Fishburn; Stoppa, David; Borghetti, Fausto; Y., Maruyama; M., Gersbach; R. K., Henderson; C., Bruschini; E., Charbon
Characterization of linearly graded position-sensitive silicon photomultipliers 1-gen-2014 Ferri, Alessandro; Acerbi, Fabio; Gola, Alberto Giacomo; Paternoster, Giovanni; Piemonte, Claudio; Zorzi, Nicola
Characterization of metal nanoparticles by X-ray photoelectron spectroscopy 1-gen-2013 Speranza, Giorgio; L., Minati
Characterization of MIM Capacitors for the Investigation of RF MEMS Switch Charging Effects 1-gen-2009 G., De Angelis; A., Lucibello; Giacomozzi, Flavio; Margesin, Benno; G., Bartolucci; R., Marcelli
Characterization of Monolithic CMOS Sensors with Internal Gain in a 110 nm Technology Node 1-gen-2024 Follo, U.; Bufalino, S.; Corradino, T.; Da Rocha Rolo, M. D.; Durando, S.; Ferrero, C.; Gioachin, G.; Mandurrino, M.; Mignone, M.; Pancheri, L.; Rivetti, A.; Wheadon, R.
Characterization of monolithic SDD arrays and SFERA ASIC for the SIDDHARTA experiment 1-gen-2016 Butt, Arslan Dawood; Bellotti, Giovanni; Carminati, Marco; Fiorini, Carlo; Piemonte, Claudio; Zorzi, Nicola; Manca, Fabio
Characterization of nanocrystalline gamma-Fe2O3 with synchrotron radiation techniques 1-gen-1999 E., Pellegrin; M., Hagelstein; S., Doyle; H. O., Moser; J., Fuchs; J., Vollath; S., Schuppler; M. S., James; Shanker Saxena, Siddharth; L., Niesen; O., Rogojanu; G. A., Sawatzky; C., Ferrero; M., Borowski; O., Tjernberg; N. B., Brookes
Characterization of New FBK Double-Sided 3D Sensors with Improved Breakdown Voltage 1-gen-2013 Dalla Betta, Gian Franco; Boscardin, Maurizio; Giacomini, Gabriele; Hoeferkamp, M.; Mattedi, Francesca; Mattiazzo, S.; Mcduff, H.; Mendicino, R.; Povoli, Marco; Seidel, S.; Zorzi, Nicola
Characterization of oscillations during flow boiling of water in parallel microchannels 1-gen-2018 Sitar, Anže; Lebar, Andrej; Crivellari, Michele; Bagolini, Alvise; Golobič, Iztok
Characterization of quartz-based package for RF MEMS 1-gen-2013 Sordo, Guido; Faes, Alessandro; Resta, Giuseppe; Iannacci, Jacopo
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  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 7921
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 511
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 339
Autore
  • Cimatti, Alessandro 262
  • Remondino, Fabio 252
  • Lorenzelli, Leandro 232
  • Margesin, Benno 208
  • Serafini, Luciano 205
  • Negri, Matteo 203
  • Nollo, Giandomenico 194
  • Bovolo, Francesca 185
  • Magnini, Bernardo 177
  • Zancanaro, Massimo 177
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 5
  • 2020 - 2026 1785
  • 2010 - 2019 3908
  • 2000 - 2009 2457
  • 1990 - 1999 567
  • 1980 - 1989 49
Editore
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  • Springer 359
  • ACM 154
  • Association for Computational Lin... 92
  • CEUR-WS.org 78
  • IEEE Computer Society 61
  • SPIE 60
  • ACL 38
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  • ieee 31
Rivista
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Serie
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