RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 1 - 10 di 346 (tempo di esecuzione: 0.014 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
2-D mapping of the response of SDD cells of different shape in monolithic arrays for XRF spectroscopy 1-gen-2016 Castoldi, A.; Guazzoni, C.; Montemurro, G. V.; Liu, C.; Zorzi, N.; Rashevskaya, I.; Rachevski, A.; Vacchi, A.; Zampa, G.; Zampa, N.
32-Channel Detection Unit for Combined XRF-XRD in Mining Transportable Applications 1-gen-2020 Carminati, M.; Amirkhani, A.; Gugiatti, M.; Ferrara, E.; Fiorini, C.; Demenev, E.; Pepponi, G.; Ronchin, S.; Ficorella, F.; Borghi, G.; Zorzi, N.; Borovin, E.; Lutterotti, L.
32-Channel silicon strip detection module for combined X-ray fluorescence spectroscopy and X-ray diffractometry analysis 1-gen-2022 Carminati, Marco; Borghi, Giacomo; Demenev, Evgeny; Gugiatti, Matteo; Pepponi, Giancarlo; Crivellari, Michele; Ficorella, Francesco; Ronchin, Sabina; Zorzi, Nicola; Borovin, Evgeny; Lutterotti, Luca; Fiorini, Carlo
3D active edge silicon sensors: Device processing, yield and QA for the ATLAS-IBL production 1-gen-2013 C., Da Vià; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Darbo; C., Fleta; C., Gemme; Giacomini, Gabriele; P., Grenier; S., Grinstein; T. E., Hansen; J., Hasi; C., Kenney; A., Kok; A., La Rosa; A., Micelli; S., Parker; G., Pellegrini; D. L., Pohl; Povoli, Marco; Vianello, Elisa; Zorzi, Nicola; S. J., Watts
3D detectors at ITC-irst: first irradiation studies 1-gen-2007 Ronchin, Sabina; Boscardin, Maurizio; Luciano, Bosisio; Vladimir, Cindro; Dalla Betta, Gian Franco; Piemonte, Claudio; Pozza, Alberto; Andrea, Zoboli; Zorzi, Nicola
3D Modeling of a Bipolar Smart Optical Sensor Fabricated in CMOS Technology 1-gen-1994 M. C., Vecchi; Zorzi, Nicola; A., Pierantoni; S., Abenda; P., Ciampolini; M., Rudan
3D Silicon Sensors - Large Area Production, QA and Development for the CERN ATLAS Experiment Pixel Sensor Upgrade 1-gen-2012 A., Kok; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; C., Da Viá; G., Darbo; C., Fleta; P., Grenier; S., Grinstein; T. E., Hansen; J., Hasi; C. J., Kenney; S. I., Parker; G., Pellegrini; Vianello, Elisa; Zorzi, Nicola
3D silicon sensors: Design, large area production and quality assurance for the ATLAS IBL pixel detector upgrade 1-gen-2012 C., Da Vià; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; G., Darbo; C., Fleta; C., Gemme; P., Grenier; S., Grinstein; T. E., Hansen; J., Hasi; C., Kenney; A., Kok; S., Parker; G., Pellegrini; Vianello, Elisa; Zorzi, Nicola
3D silicon strip detectors 1-gen-2009 Ulrich, Parzefall; Richard, Bates; Boscardin, Maurizio; Dalla Betta, Gian Franco; Simon, Eckert; Lars, Eklund; Celeste, Fleta; Karl, Jakobs; Susanne, Kuhn; Manuel, Lozano; Gregor, Pahn; Chris, Parkes; Giulio, Pellegrini; David, Pennicard; Piemonte, Claudio; Ronchin, Sabina; Tomasz, Szumlak; Andrea, Zoboli; Zorzi, Nicola
3D-FBK pixel sensors: Recent beam tests results with irradiated devices 1-gen-2011 A., Micelli; K., Helle; H., Sandaker; B., Stugu; M., Barbero; F., Hügging; M., Karagounis; V., Kostyukhin; H., Krüger; J. W., Tsung; N., Wermes; M., Capua; S., Fazio; A., Mastroberardino; G., Susinno; C., Gallrapp; B., Di Girolamo; D., Dobos; A., La Rosa; H., Pernegger; S., Roe; T., Slavicek; S., Pospisil; K., Jakobs; M., Köhler; U., Parzefall; G., Darbo; G., Gariano; C., Gemme; A., Rovani; E., Ruscino; C., Butter; R., Bates; V., Oshea; S., Parker; M., Cavalli Sforza; S., Grinstein; I., Korokolov; C., Pradilla; K., Einsweiler; M., Garcia Sciveres; M., Borri; C., Da Vià; J., Freestone; S., Kolya; C. H., Lai; C., Nellist; J., Pater; R., Thompson; S. J., Watts; M., Hoeferkamp; S., Seidel; E., Bolle; H., Gjersdal; K. N., Sjoebaek; S., Stapnes; O., Rohne; D., Su; C., Young; P., Hansson; P., Grenier; J., Hasi; C., Kenney; M., Kocian; P., Jackson; D., Silverstein; H., Davetak; B., Dewilde; D., Tsybychev; Dalla Betta, Gian Franco; Gabos, Paolo; Povoli, Marco; M., Cobal; M. P., Giordani; L., Selmi; A., Cristofoli; D., Esseni; P., Palestri; C., Fleta; M., Lozano; G., Pellegrini; Boscardin, Maurizio; Bagolini, Alvise; Piemonte, Claudio; Ronchin, Sabina; Zorzi, Nicola; T. E., Hansen; T., Hansen; A., Kok; N., Lietaer; J., Kalliopuska; A., Oja
Risultati 1 - 10 di 346 (tempo di esecuzione: 0.014 secondi).
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • 1 Contributo su Rivista 193
  • 1 Contributo su Rivista::1.1 Arti... 193
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 143
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 132
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 11
  • 5 Altro 8
  • 5 Altro::5.12 Altro 8
  • 3 Libro 1
  • 3 Libro::3.1 Monografia o trattat... 1
  • 6 Brevetti 1
  • 6 Brevetti::6.1 Brevetto 1
Autore
  • Boscardin, Maurizio 181
  • Piemonte, Claudio 161
  • Dalla Betta, Gian Franco 142
  • Ronchin, Sabina 81
  • Bellutti, Pierluigi 71
  • Picciotto, Antonino 52
  • Giacomini, Gabriele 51
  • Gola, Alberto Giacomo 50
  • Borghi, Giacomo 47
  • Ficorella, Francesco 46
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 39
  • 2010 - 2019 150
  • 2000 - 2009 124
  • 1990 - 1999 32
  • 1989 - 1989 1
Editore
  • IEEE 84
  • Elsevier 61
  • SPIE 8
  • IOP Publishing 6
  • SPIE, the international society f... 6
  • Electrochemical Society 4
  • World Scientific Publishing 4
  • no publisher 2
  • SISSA 2
  • AIP Publishing 1
Rivista
  • NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN ... 105
  • JOURNAL OF INSTRUMENTATION 28
  • IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE 25
  • MICROELECTRONICS JOURNAL 5
  • IEEE JOURNAL OF SELECTED TOPICS I... 4
  • IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEV... 3
  • JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SE... 3
  • POS PROCEEDINGS OF SCIENCE 3
  • FRONTIERS IN PHYSICS 2
  • MICROELECTRONICS RELIABILITY 2
Serie
  • PROCEEDINGS OF SPIE, THE INTERNAT... 9
  • PROCEEDINGS OF SPIE 6
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 1
Keyword
  • 3D detectors 35
  • silicon radiation detectors 35
  • electrical characterization 33
  • fabrication technology 30
  • silicon detectors 21
  • SiPM 21
  • radiation damage 19
  • silicon photomultiplier 17
  • Solid state detectors 15
  • Silicon Drift Detectors 14
Lingua
  • eng 338
  • ita 5
Accesso al fulltext
  • no fulltext 343
  • open 3