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Spectrometer for Grazing Incidence XRF: Characterization of As Implants and Hf Layers
2009-01-01 C., Streli; D., Ingerle; Meirer, Florian; N., Zoeger; Pepponi, Giancarlo; P., Wobrauschek
ToF-SIMS and TXM analysis of ancient ceramics
2011-01-01 Gennaro, Salvatore; Meirer, Florian; Pepponi, Giancarlo; Bersani, Massimo; Y., Liu; A., Mehta; J. C., Andrews; P., Pianetta
TOF-SIMS and TXM analysis of ancient ceramics
2012-01-01 Meirer, Florian; Gennaro, Salvatore; F., Brigidi; Dell'Anna, Rossana; Pepponi, Giancarlo; Bersani, Massimo; Y., Liu; A., Mehta; J. C., Andrews; P., Pianetta; S., Favre; P., sciau
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Spectrometer for Grazing Incidence XRF: Characterization of As Implants and Hf Layers | 1-gen-2009 | C., Streli; D., Ingerle; Meirer, Florian; N., Zoeger; Pepponi, Giancarlo; P., Wobrauschek | |
ToF-SIMS and TXM analysis of ancient ceramics | 1-gen-2011 | Gennaro, Salvatore; Meirer, Florian; Pepponi, Giancarlo; Bersani, Massimo; Y., Liu; A., Mehta; J. C., Andrews; P., Pianetta | |
TOF-SIMS and TXM analysis of ancient ceramics | 1-gen-2012 | Meirer, Florian; Gennaro, Salvatore; F., Brigidi; Dell'Anna, Rossana; Pepponi, Giancarlo; Bersani, Massimo; Y., Liu; A., Mehta; J. C., Andrews; P., Pianetta; S., Favre; P., sciau |
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Tipologia
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 13
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 13
Data di pubblicazione
- 2012 4
- 2011 2
- 2009 7
Keyword
- GIXRF 3
- arsenic 2
- silicon 2
- SIMS 2
- ToF SIMS 2
- ultra shallow junctions 2
- Archaemetry 1
- cancer cells 1
- ion implantation 1
- iron 1
Lingua
- eng 12
Accesso al fulltext
- no fulltext 13