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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Activated dopant effect on low energy SIMS depth profiling 1-gen-2005 Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
An experimental/ab-initio study on carbon nanotubes fibers for application in high-performing sporting goods. 1-gen-2013 Maria F., Pantano; Vesselin, Shanov; Mark J., Schulz; Fedrizzi, Michele; Iacob, Erica; Bersani, Massimo; Taioli, Simone; Silvio A., Beccara; Pugno, Nicola
Analytical methodology development for SRO chemical physical characterization 1-gen-2006 Barozzi, Mario; Iacob, Erica; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo; Pucker, Georg; C., Kompocholis
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage 1-gen-2005 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Columnar nano-void formation on Germanium under Sn+ ion implantation: Ge1-xSnx walls 1-gen-2014 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo
Deposition of Organic Thin Films on Inorganic Nanostructured Substrates by SuMBD: A Multivariate Statistical Analysis of Surface Characterization Measurements to Investigate the Interaction at the Interface 1-gen-2014 Dell'Anna, Rossana; Canteri, Roberto; N., Coppedè; Vanzetti, Lia Emanuela; E., Cazzanelli; S., Iannotta; Bersani, Massimo
Development of nano-roughness under SIMS ion sputtering of Germanium surfaces 1-gen-2011 Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Demenev, Evgeny; Gennaro, Salvatore; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy 1-gen-2014 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Dynamic SIMS Characterization of Ge1-xSnx alloy 1-gen-2013 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
GIXRF In The Soft X-Ray Range Used For The Characterization Of Ultra Shallow Junctions 1-gen-2009 B., Beckhoff; P., Hoenicke; Giubertoni, Damiano; Pepponi, Giancarlo; Bersani, Massimo
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 39
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Autore
  • Iacob, Erica 25
  • Giubertoni, Damiano 23
  • Barozzi, Mario 20
  • Vanzetti, Lia Emanuela 12
  • Anderle, Mariano 11
  • Pepponi, Giancarlo 10
  • Gennaro, Salvatore 9
  • Meirer, Florian 6
  • Demenev, Evgeny 5
  • Canteri, Roberto 4
Data di pubblicazione
  • 2010 - 2014 18
  • 2001 - 2009 21
Editore
  • A. Rossi, B. Elsener grafiche Gh... 1
Keyword
  • SIMS 10
  • GIXRF 3
  • ultra shallow junctions 3
  • accreditation 2
  • AFM 2
  • arsenic 2
  • asbestos 2
  • ISO/IEC 17025 2
  • SEM 2
  • silicon 2
Lingua
  • eng 36
Accesso al fulltext
  • no fulltext 39