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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Activated dopant effect on low energy SIMS depth profiling
2005-01-01 Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage
2005-01-01 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Color centers in Diamond
2023-01-01 Missale, Elena; Dell’Anna, Rossana; Ditalia Tchernij, S.; Forneris, Jacopo; Giubertoni, Damiano; Picciotto, Antonino; Pucker, Georg; Pugliese, Vanna; Speranza, Giorgio
Columnar nano-void formation on Germanium under Sn+ ion implantation: Ge1-xSnx walls
2014-01-01 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo
Detector Array Readout with Traveling Wave Amplifiers
2021-01-01 Giachero, A.; Barone, C.; Borghesi, M.; Carapella, G.; Caricato, A. P.; Carusotto, I.; Cian, A.; Di Gioacchino, D.; Enrico, E.; Falferi, P.; Fasolo, L.; Faverzani, M.; Ferri, E.; Filatrella, G.; Gatti, C.; Giubertoni, D.; Greco, A.; Leo, A.; Ligi, C.; Maccarrone, G.; Margesin, B.; Maruccio, G.; Mezzena, R.; Monteduro, A. G.; Nucciotti, A.; Oberto, L.; Pagano, S.; Pierro, V.; Piersanti, L.; Rajteri, M.; Rizzato, S.; Vinante, A.
Development of nano-roughness under SIMS ion sputtering of Germanium surfaces
2011-01-01 Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Demenev, Evgeny; Gennaro, Salvatore; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy
2014-01-01 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Dynamic SIMS Characterization of Ge1-xSnx alloy
2013-01-01 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
Germanium nanopillars growth by confined gold ion implantation by FIB
2022-01-01 Cian, Alessandro; Giubertoni, Damiano; Fiala, Jiri; Babocký, Jiri; Hrabovsky, Milos; Ferrario, Lorenza
GIXRF characterization of thin Ge1-xSnx films
2014-01-01 Brigidi, Fabio; Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Pepponi, Giancarlo
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
---|---|---|---|
Activated dopant effect on low energy SIMS depth profiling | 1-gen-2005 | Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo | |
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage | 1-gen-2005 | Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo | |
Color centers in Diamond | 1-gen-2023 | Missale, Elena; Dell’Anna, Rossana; Ditalia Tchernij, S.; Forneris, Jacopo; Giubertoni, Damiano; Picciotto, Antonino; Pucker, Georg; Pugliese, Vanna; Speranza, Giorgio | |
Columnar nano-void formation on Germanium under Sn+ ion implantation: Ge1-xSnx walls | 1-gen-2014 | Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo | |
Detector Array Readout with Traveling Wave Amplifiers | 1-gen-2021 | Giachero, A.; Barone, C.; Borghesi, M.; Carapella, G.; Caricato, A. P.; Carusotto, I.; Cian, A.; Di Gioacchino, D.; Enrico, E.; Falferi, P.; Fasolo, L.; Faverzani, M.; Ferri, E.; Filatrella, G.; Gatti, C.; Giubertoni, D.; Greco, A.; Leo, A.; Ligi, C.; Maccarrone, G.; Margesin, B.; Maruccio, G.; Mezzena, R.; Monteduro, A. G.; Nucciotti, A.; Oberto, L.; Pagano, S.; Pierro, V.; Piersanti, L.; Rajteri, M.; Rizzato, S.; Vinante, A. | |
Development of nano-roughness under SIMS ion sputtering of Germanium surfaces | 1-gen-2011 | Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Demenev, Evgeny; Gennaro, Salvatore; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo | |
Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy | 1-gen-2014 | Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo | |
Dynamic SIMS Characterization of Ge1-xSnx alloy | 1-gen-2013 | Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo | |
Germanium nanopillars growth by confined gold ion implantation by FIB | 1-gen-2022 | Cian, Alessandro; Giubertoni, Damiano; Fiala, Jiri; Babocký, Jiri; Hrabovsky, Milos; Ferrario, Lorenza | |
GIXRF characterization of thin Ge1-xSnx films | 1-gen-2014 | Brigidi, Fabio; Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Pepponi, Giancarlo |
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Tipologia
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 34
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Data di pubblicazione
- 2020 - 2024 8
- 2010 - 2019 10
- 2001 - 2009 16
Editore
- A. Rossi, B. Elsener grafiche Gh... 1
Keyword
- SIMS 7
- GIXRF 4
- ultra shallow junctions 3
- arsenic 2
- ion implantation 2
- silicon 2
- accreditation 1
- AFM 1
- asbestos 1
- boron 1
Lingua
- eng 27
Accesso al fulltext
- no fulltext 34