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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Activated dopant effect on low energy SIMS depth profiling 1-gen-2005 Barozzi, Mario; Giubertoni, Damiano; S., Pederzoli; Anderle, Mariano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Boron ultra low energy SIMS depth profiling improved by rotating stage 1-gen-2005 Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Barozzi, Mario; S., Pederzoli; Vanzetti, Lia Emanuela; Anderle, Mariano; Bersani, Massimo
Color centers in Diamond 1-gen-2023 Missale, Elena; Dell’Anna, Rossana; Ditalia Tchernij, S.; Forneris, Jacopo; Giubertoni, Damiano; Picciotto, Antonino; Pucker, Georg; Pugliese, Vanna; Speranza, Giorgio
Columnar nano-void formation on Germanium under Sn+ ion implantation: Ge1-xSnx walls 1-gen-2014 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Vanzetti, Lia Emanuela; Bersani, Massimo
Detector Array Readout with Traveling Wave Amplifiers 1-gen-2021 Giachero, A.; Barone, C.; Borghesi, M.; Carapella, G.; Caricato, A. P.; Carusotto, I.; Cian, A.; Di Gioacchino, D.; Enrico, E.; Falferi, P.; Fasolo, L.; Faverzani, M.; Ferri, E.; Filatrella, G.; Gatti, C.; Giubertoni, D.; Greco, A.; Leo, A.; Ligi, C.; Maccarrone, G.; Margesin, B.; Maruccio, G.; Mezzena, R.; Monteduro, A. G.; Nucciotti, A.; Oberto, L.; Pagano, S.; Pierro, V.; Piersanti, L.; Rajteri, M.; Rizzato, S.; Vinante, A.
Development of nano-roughness under SIMS ion sputtering of Germanium surfaces 1-gen-2011 Iacob, Erica; Barozzi, Mario; Demenev, Evgeny; Gennaro, Salvatore; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
Development of nano-topography during SIMS characterization of Ge1-xSnx alloy 1-gen-2014 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Iacob, Erica; Bersani, Massimo
Dynamic SIMS Characterization of Ge1-xSnx alloy 1-gen-2013 Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Bersani, Massimo
Germanium nanopillars growth by confined gold ion implantation by FIB 1-gen-2022 Cian, Alessandro; Giubertoni, Damiano; Fiala, Jiri; Babocký, Jiri; Hrabovsky, Milos; Ferrario, Lorenza
GIXRF characterization of thin Ge1-xSnx films 1-gen-2014 Brigidi, Fabio; Secchi, Maria; Demenev, Evgeny; Giubertoni, Damiano; Pepponi, Giancarlo
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 34
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Autore
  • Bersani, Massimo 23
  • Iacob, Erica 17
  • Barozzi, Mario 14
  • Anderle, Mariano 9
  • Pepponi, Giancarlo 8
  • Vanzetti, Lia Emanuela 8
  • Demenev, Evgeny 7
  • Cian, Alessandro 6
  • Meirer, Florian 4
  • Secchi, Maria 4
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 8
  • 2010 - 2019 10
  • 2001 - 2009 16
Editore
  • A. Rossi, B. Elsener grafiche Gh... 1
Keyword
  • SIMS 7
  • GIXRF 4
  • ultra shallow junctions 3
  • arsenic 2
  • ion implantation 2
  • silicon 2
  • accreditation 1
  • AFM 1
  • asbestos 1
  • boron 1
Lingua
  • eng 27
Accesso al fulltext
  • no fulltext 34